На сканирующий ионный гелиевый микроскоп ORION успешно установлена система ионной литографии NanoMaker.

 08 ноября 2010 г.  завершены регламентные работы на СЭМ SUPRA, выполнение заявок возобновляется.

Научная работа "Electrical levels of dislocation network in p- and n-type silicon" магистранта кафедры электроники твердого тела физического факультета СПбГУ Ивана Исакова по результатам, полученным на оборудовании МРЦ-НТ, на международной конференции по протяженным дефектам в полупроводниках EDS-2010 была признана лучшей среди докладов молодых ученых и отмечена премией Гельмута Александра (Helmut Alexander).

Желаем Ивану дальнейших научных успехов!

С 29 сентября 2010 г. запланировано выполнение регламентных работ на СЭМ SUPRA-40, в связи с чем в графике выполнения проектов МРЦ возможны изменения.

На сканирующем электронном микроскопе Supra 40VP успешно завершена установка нового детектора для работы в режиме растровой просвечивающей микроскопии (STEM).