- Информация о материале
- Категория: Оборудование РЦ Нанотехнологии
- Просмотров: 13154
Просвечивающий электронный микроскоп с автоэмиссионным катодом, энергетическим ОМЕГА фильтром, системой освещения по Кёлеру (запатентовано Carl Zeiss SMT) – микроскоп спроектирован для работы с высоким разрешением.
- Информация о материале
- Категория: Оборудование РЦ Нанотехнологии
- Просмотров: 6617
Появление сканирующего ионного микроскопа является новым этапом в развитии сканирующей микроскопии, характеризующимся получением субнанометрового разрешения. Благодаря минимально возможному размеру источника ионов, который представляет собой одиночный атом вольфрама, теоретический предел разрешения составляет 0,25 нм.
- Информация о материале
- Категория: Оборудование РЦ Нанотехнологии
- Просмотров: 11266
Zeiss Merlin - сканирующий электронный микроскоп с полевым эмиссионным катодом, колонной электронной оптики GEMINI-II и безмаслянной вакуумной системой.
Помимо детекторов вторичных электронов In-lens SE и SE2, микроскоп оснащен четырехквадрантным детектором обратно-рассеянных электронов (AsB) и детектором обратно-рассеянных электронов с фильтрацией по энергиям (EsB).
Аналитические возможности микроскопа расширены дополнительными приставками для рентгеновского микроанализа Oxford Instruments INCAx-act и системой регистрации дифракции обратнорассеянных электронов (EBSD) Oxford Instruments CHANNEL5.
- Информация о материале
- Категория: Оборудование РЦ Нанотехнологии
- Просмотров: 9352
Сканирующий электронный микроскоп Zeiss SUPRA 40VP, установленный в МРЦ "Нанотехнологии", является уникальным аналитическим комплексом исследования поверхности благодаря широкому набору дополнительных детекторов и приставок.
- Информация о материале
- Категория: Оборудование РЦ Нанотехнологии
- Просмотров: 5417
Рабочая станция Auriga Laser с пересекающимися ионным и электронным пучками дополнительно укомплектована твердотельным лазером.
