• Главная
    • Что такое Научный парк
    • Как выполнить работу в Научном парке
    • Служебное жилье
    • Нормативные документы
      • Согласие на обработку персональных данных
  • Новости
    • Архив мероприятий
      • Конференция Научного парка 2014
      • Конференция Научного парка 2015
      • Семинар Биобанка 2016
      • Конференция Современные методы термического анализа
  • Научный парк
    • Центры
    • Нормативные документы
    • Оборудование
      • Исследовательские стенды
      • Обновление приборной базы
      • Загрузка оборудования
      • Вычислительные ресурсы
        • Программное обеспечение
        • Вычислительные ресурсы
      • Оборудование вузов - членов АВУ
    • Методики
      • Исследовательские методики
      • Аттестованные методики
    • Перечень услуг
    • Обучение
    • Дополнительное образование
    • Работа с музеями
  • Работа Научного парка
    • Публикации
    • Статистика по публикациям
    • Отзывы
    • Текущие проекты
    • Статистика
    • Загрузка оборудования
  • Информация
    • Новости
      • Архив мероприятий
        • Конференция Научного парка 2014
        • Конференция Научного парка 2015
        • Конференция Современные методы термического анализа
        • Семинар Биобанка 2016
    • Презентация Научного парка
    • Партнеры
    • Недобросовестные партнеры
    • Система приема заявок
    • СМИ о нас
    • Печатные материалы
    • Виртуальные экскурсии
    • Видеоматериалы
  • Контакты
    • Дирекция Научного парка
    • Директора ресурсных центров
    • Служба поддержки
    • Заявки
      • Заявка на измерения для внешних пользователей
      • Заявка на стажировку
      • Заявка на ознакомительную экскурсию
                 

Низкотемпературная автоматическая система замещения воды Leica EM AFS2

Информация о материале
Категория: Пробоподготовка к электронной микроскопии
Просмотров: 4160

Leica EM AFS2 – низкотемпературная автоматическая система замещения воды для электронной и световой микроскопии.

Размещение: Василеостровская площадка.

Статус: эксплуатация в рабочем режиме.

leica-em-asf2.jpg

Подробнее

Система автоматического быстрого замораживания для подготовки жидких образцов Leica EM GP

Информация о материале
Категория: Пробоподготовка к электронной микроскопии
Просмотров: 4029

Leica EM GP – автоматическая установка для быстрой заморозки образцов, содержащих воду, взвесей и коллоидных растворов во вторичной криогенной среде, такой как жидкий этан, предназначенных для работы на просвечивающем электронном микроскопе в крио-режиме (cryo-TEM).

Размещение: Василеостровская площадка.

Статус: эксплуатация в рабочем режиме.

 leica-em-gp.jpg

Подробнее

Станция для тримминга блоков Leica EM TRIM2

Информация о материале
Категория: Пробоподготовка к электронной микроскопии
Просмотров: 3918

Используется для подготовки образцов перед ультратомией. 

Прибор может быть использован для:

  • • "заточки пирамидок" на полимеризованных блоках с образцами,
  • • ориентации образца и шлифовки передней поверхности затачиваемого блока.

Размещение: Василеостровская площадка.

Статус: эксплуатация в рабочем режиме.

leica-em-trim2.jpg

Подробнее

Станция автоматического проведения препарата по методу иммуноголд Leica EM IGL

Информация о материале
Категория: Пробоподготовка к электронной микроскопии
Просмотров: 3968

Leica EM IGL – станция автоматического мечения ультратонких срезов образцов тканей по методу иммуноголд для просвечивающего электронного микроскопа. 

Размещение: Василеостровская площадка.

Статус: эксплуатация в рабочем режиме.

leica-em-igl.jpg

Подробнее

Автоматическая станция проводки материала Leica EM AMW

Информация о материале
Категория: Пробоподготовка к электронной микроскопии
Просмотров: 3932

Leica EM AMW – автоматическая станция проводки материала для электронной микроскопии с микроволновым облучением материала.

Размещение: Василеостровская площадка.

Статус: эксплуатация в рабочем режиме.

leica-em-amw.jpg

Подробнее

Подкатегории

Просвечивающая электронная микроскопия

Дополнительное оборудование просвечивающих электронных микроскопов

Сканирующая электронная микроскопия

Пробоподготовка к электронной микроскопии

Оптическая микроскопия

Пробоподготовка к оптической микроскопии

Оборудование для работы с клеточными культурами

Протеомика, метаболомика, геномика

Протеомика

Сопутствующее оборудование

Геномика

Страница 5 из 19

  • 1
  • 2
  • 3
  • 4
  • 5
  • 6
  • 7
  • 8
  • 9
  • 10

Выберите язык

  • Russian
  • English (UK)
  • О центре РМКТ
  • Оборудование РЦ РМКТ
  • Методики РЦ РМКТ
  • Школы и научные семинары РЦ РМКТ
  • Сотрудники РЦ РМКТ
  • Новости РЦ РМКТ
  • Контакты РЦ РМКТ
  • Регламент РЦ РМКТ
© 2025 Научный парк СПбГУ
Служба поддержки: esrc-support@spbu.ru

На данном информационном ресурсе могут быть опубликованы архивные материалы с упоминанием физических и юридических лиц, включенных Министерством юстиции Российской Федерации в реестр иностранных агентов.