• Главная
    • Что такое Научный парк
    • Как выполнить работу в Научном парке
    • Служебное жилье
    • Нормативные документы
      • Согласие на обработку персональных данных
  • Новости
    • Архив мероприятий
      • Конференция Научного парка 2014
      • Конференция Научного парка 2015
      • Семинар Биобанка 2016
      • Конференция Современные методы термического анализа
  • Научный парк
    • Центры
    • Нормативные документы
    • Оборудование
      • Исследовательские стенды
      • Обновление приборной базы
      • Загрузка оборудования
      • Вычислительные ресурсы
        • Программное обеспечение
        • Вычислительные ресурсы
      • Оборудование вузов - членов АВУ
    • Методики
      • Исследовательские методики
      • Аттестованные методики
    • Перечень услуг
    • Обучение
    • Дополнительное образование
    • Работа с музеями
  • Работа Научного парка
    • Публикации
    • Статистика по публикациям
    • Отзывы
    • Текущие проекты
    • Статистика
    • Загрузка оборудования
  • Информация
    • Новости
      • Архив мероприятий
        • Конференция Научного парка 2014
        • Конференция Научного парка 2015
        • Конференция Современные методы термического анализа
        • Семинар Биобанка 2016
    • Презентация Научного парка
    • Партнеры
    • Недобросовестные партнеры
    • Система приема заявок
    • СМИ о нас
    • Печатные материалы
    • Виртуальные экскурсии
    • Видеоматериалы
  • Контакты
    • Дирекция Научного парка
    • Директора ресурсных центров
    • Служба поддержки
    • Заявки
      • Заявка на измерения для внешних пользователей
      • Заявка на стажировку
      • Заявка на ознакомительную экскурсию
                 

Настольный СЭМ Jeol JCM-5000 Neoscope

Информация о материале
Категория: Сканирующая электронная микроскопия
Просмотров: 5452

Настольный растровый электронный микроскоп Jeol JCM-5000 (Neoscope) прибор может быть использован для:

  • • рутинной сканирующей микроскопии (до 30 нм),
  • • рутинной сканирующей микроскопии низкого вакуума. 

Размещение: Василеостровская площадка.

Статус: эксплуатация в рабочем режиме.

Подробнее

ПЭ-СЭМ Tescan MIRA3 LMU

Информация о материале
Категория: Сканирующая электронная микроскопия
Просмотров: 6893

Сканирующая (растровая) электронная микроскопия (СЭМ, РЭМ) позволяет получить изображения объёмных электронно-плотных образцов с высоким разрешением путём сканирования образцов тонко сфокусированным пучком электронов. Возможно получение информации о строении поверхности объекта (топографический контраст, вторичные электроны), о составе объекта (обратно-рассеянные электроны, анализ характеристического рентгеновского излучения) и некоторых других характеристик. Сканирующий электронный микроскоп Tescan MIRA 3 LMU c возможностью работы при низком вакууме и с напуском водяных паров может применяется в исследованиях биологических образцов для:

  • • сканирующей электронной микроскопии высокого разрешения (до 1 нм), 
  • • сканирующей электронной микроскопии в низковакуумном режиме для обводнённых и непроводящих образцов, 
  • • сканирующей криоэлектронной микроскопии при температуре до -130оС,
  • • энергодисперсионного микроанализа (ЭДА, EDS).

Размещение: Василеостровская площадка.

Статус: эксплуатация в рабочем режиме.

Подробнее

Выберите язык

  • Russian
  • English (UK)
  • О центре РМКТ
  • Оборудование РЦ РМКТ
  • Методики РЦ РМКТ
  • Школы и научные семинары РЦ РМКТ
  • Сотрудники РЦ РМКТ
  • Новости РЦ РМКТ
  • Контакты РЦ РМКТ
  • Регламент РЦ РМКТ
© 2025 Научный парк СПбГУ
Служба поддержки: esrc-support@spbu.ru

На данном информационном ресурсе могут быть опубликованы архивные материалы с упоминанием физических и юридических лиц, включенных Министерством юстиции Российской Федерации в реестр иностранных агентов.