• Главная
    • Что такое Научный парк
    • Как выполнить работу в Научном парке
    • Служебное жилье
    • Нормативные документы
      • Согласие на обработку персональных данных
  • Новости
    • Архив мероприятий
      • Конференция Научного парка 2014
      • Конференция Научного парка 2015
      • Семинар Биобанка 2016
      • Конференция Современные методы термического анализа
  • Научный парк
    • Центры
    • Нормативные документы
    • Оборудование
      • Исследовательские стенды
      • Обновление приборной базы
      • Загрузка оборудования
      • Вычислительные ресурсы
        • Программное обеспечение
        • Вычислительные ресурсы
      • Оборудование вузов - членов АВУ
    • Методики
      • Исследовательские методики
      • Аттестованные методики
    • Перечень услуг
    • Обучение
    • Дополнительное образование
    • Работа с музеями
  • Работа Научного парка
    • Публикации
    • Статистика по публикациям
    • Отзывы
    • Текущие проекты
    • Статистика
    • Загрузка оборудования
  • Информация
    • Новости
      • Архив мероприятий
        • Конференция Научного парка 2014
        • Конференция Научного парка 2015
        • Конференция Современные методы термического анализа
        • Семинар Биобанка 2016
    • Презентация Научного парка
    • Партнеры
    • Недобросовестные партнеры
    • Система приема заявок
    • СМИ о нас
    • Печатные материалы
    • Виртуальные экскурсии
    • Видеоматериалы
  • Контакты
    • Дирекция Научного парка
    • Директора ресурсных центров
    • Служба поддержки
    • Заявки
      • Заявка на измерения для внешних пользователей
      • Заявка на стажировку
      • Заявка на ознакомительную экскурсию
                 

Вакуумная напылительная станция Jeol JEE-420D

Информация о материале
Категория: Дополнительное оборудование просвечивающих электронных микроскопов
Просмотров: 6468

Установка обеспечивает напыление непроводящих образцов тонкими плёнками в высоком вакууме. Прибор может быть использован для:

  • • напыления углеродной пленки,
  • • осаждение пленки металла,
  • • изготовления реплик.

Размещение: Василеостровская площадка.

Статус: эксплуатация в рабочем режиме.

Подробнее

Система обезгаживания плёнки JEOL Photoplate degasser

Информация о материале
Категория: Дополнительное оборудование просвечивающих электронных микроскопов
Просмотров: 6022

Устройство для дессикации фотопластин.

Применяется для удаления влаги из фотопластинок, используемых на просвечивающих электронных микроскопах Jeol JEM-1400 и Jeol JEM-2100. Необязательно для электронно-чувствительных пластин, используемых совместно со сканером DitaBis Vario, однако, при использовании, существенно сокращает время откачки ПЭМ.  

Размещение: Василеостровская площадка.

Статус: эксплуатация в рабочем режиме.

jeol-em-dsc30.png

Устройство для придания поверхностям углеродных плёнок и алмазных ножей гидрофильности Jeol HDT-400

Информация о материале
Категория: Дополнительное оборудование просвечивающих электронных микроскопов
Просмотров: 3982

Устройство для придания поверхностям углеродных плёнок и алмазных ножей гидрофильности. 

Прибор может быть использован для:

  • • гидрофилизации углеродных поддерживающих плёнок с целью лучшей адгезии полутонких срезов;
  • • гидрофилизации держателей для СЭМ;
  • • придания поверхности алмазного ножа гидрофильности (смачиваемости) для оптипизации ультратомии. 

Размещение: Василеостровская площадка.

Статус: эксплуатация в рабочем режиме.

Подробнее

Система документации DitaBis Vario

Информация о материале
Категория: Дополнительное оборудование просвечивающих электронных микроскопов
Просмотров: 6005

Система захвата изображения.

Прибор может быть использован для замены традиционных фотопластинок при документации изображений, получаемых на просвечивающих электронных микроскопах Jeol JEM-1400 и Jeol JEM-2100.

Размещение: Василеостровская площадка.

Статус: эксплуатация в рабочем режиме.

ditabis-vario.jpg

Подробнее

Плазменная очистка держателя и образца Jeol JIC-410

Информация о материале
Категория: Дополнительное оборудование просвечивающих электронных микроскопов
Просмотров: 5966

Устройство плазменной чистки образцов Jeol JIC-410.

Прибор может быть использован для очистки держателей ПЭМ от углеводородных загрязнений.

Размещение: Василеостровская площадка.

Статус: эксплуатация в рабочем режиме.

Подробнее

Страница 1 из 2

  • 1
  • 2

Выберите язык

  • Russian
  • English (UK)
  • О центре РМКТ
  • Оборудование РЦ РМКТ
  • Методики РЦ РМКТ
  • Школы и научные семинары РЦ РМКТ
  • Сотрудники РЦ РМКТ
  • Новости РЦ РМКТ
  • Контакты РЦ РМКТ
  • Регламент РЦ РМКТ
© 2025 Научный парк СПбГУ
Служба поддержки: esrc-support@spbu.ru

На данном информационном ресурсе могут быть опубликованы архивные материалы с упоминанием физических и юридических лиц, включенных Министерством юстиции Российской Федерации в реестр иностранных агентов.