Данный зондовый метод позволяет получить изображения поверхности образцов (в том числе и непроводящих) с использованием как кантилеверов, так и Qplus сенсоров. В последнем режиме одновременно с АСМ-изображениями с атомарным разрешением могут быть получены и СТМ-изображения.
