SAXSess mc² — малоугловой рентгеновский дифрактометр, предназначенный для характеристики структуры в нанометровом диапазоне. Система является идеальным инструментом для анализа наноструктур, присутствующих в различных видах образцов, от жидкостей (например, коллоиды, растворы белков) до твёрдых тел (например, полимерные плёнки, нанокомпозиты). Когда рентгеновские лучи проникают в такие материалы, они рассеиваются на поверхностях раздела с наноструктурами. Это даёт профиль рассеяния, специфичный для данной структуры.

 

Метод SAXS точный, экономичный, не деструктивный и обычно нуждается в минимальной пробоподготовке. Более того, SAXS позволяет исследовать взаимодействия между молекулами в режиме реального времени.

Уникальное сочетание современной оптики с коллиматорным блоком высочайшего качества дают на выходе мощный монохроматический первичный пучок сфокусированный за анализируемым образцом, что позволяет быстро измерить профиль рассеяния даже от образцов с низкой контрастностью. Сигнал рассеяния детектируется 2D — чувствительной пластиной, обладающей широким линейным динамическим диапазоном.

Широкоугловое расширение для SAXSess позволяет одновременно измерять весь угловой диапазон рассеяния от 0° до 40°, покрывая размеры исследуемых наноструктур от 0.2 нм до 150 нм.

Основные направления объекты исследований:

  • Размер частиц взвешенных нано-порошков;
  • Катализаторы (определение поверхности на единицу объёма);
  • Бетон, каменный уголь и аморфные твёрдые тела;
  • Сплавы;
  • Форма частиц;
  • Внутренняя структура частиц;
  • Отношение величины поверхности к объему, пористость;
  • Молекулярный вес, число агрегации;
  • Степень кристалличности;
  • Распределение частиц по размерам;
  • Самоорганизующиеся ПАВ-системы;
  • Микроэмульсии;
  • Липидные мембраны;
  • Объекты молекулярной биологии (белки, вирусы, комплексы ДНК и т.д.);
  • Исследования полимеров;
  • Волокна.

Основные технические характеристики:

  • Материалы анода: длиннофокусная рентгеновская трубка  – CuKα (0,1542 нм);
  • Фокусирующее многослойное зеркало;
  • Расстояние образец-детектор от 250 мм  до 280 мм;
  • Детектор отраженных рентгеновских лучей Princeton Instruments  SCX-  4300 типа CCD (Charge-Coupled Device):
  • размер матрицы 2084 × 2084;
  • размер пикселя 24 x24 μm;
  • Детектор отраженных рентгеновских лучей - Image Plate 62мм х 60мм или 200мм х 60мм;
  • Держатели образцов:
  • заправляемый кварцевый капилляр для жидкостей (диаметр = 1 мм);
  • держатель для пленок 5мм × 20 мм;
  • с системой температурного контроля образца с диапазоном температур до 300°C.

Программное обеспечение:

Определение и выполнение автоматических серийных экспериментов.

Создание одномерных профилей рассеяния путем усреднения двумерных диаграмм рассеяния с линейными или круговыми траекториями.

Обработка изображения в форматах TIFF и IMG/PCB, которые фиксируются с помощью чувствительных пластин, изображения TIFF, полученные модулем Measurement системы SAXSquant 3.5 (или непосредственно от программного обеспечения детектора) с использованием CCD-детектора.

Подготовка данных для передачи в другие программы для более сложного анализа, такого как преобразование Фурье и деконволюция.

GIFT:  программа  обобщенного  непрямого  преобразования  Фурье.  Она  вычисляет парные  функции  распределения  от  экспериментальных  кривых  рассеяния,  таким образом автоматически восстанавливая данные, при условии предоставления данных о профиле пучка. Кроме того, имеется возможность взаимодействия с интерактивной системой.

DECON: программа деконволюции для вычисления профилей электронной плотности  из  функций  парного  распределения  для  сферических,  цилиндрических  и  пластинчатых частиц. При этом может учитываться небольшая полидисперсность.

MULTIBODY: для вычисления функций рассеяния и парного распределения структур произвольной формы.

SINGLEBODY: для вычисления функций рассеяния и парного распределения структур простой формы (т.е. эллипсоидов, слоистых цилиндров).

  

Информация от производителя оборудования:

SAXSess - The Modular Tool for Nanostructure Analysis.pdf

Размещение:

Петродворцовский учебно-научный комплекс СПбГУ.