Дифрактометр высокого разрешения предназначен для решения широкого круга задач рентгеновской дифракции при изучении, как поликристаллов, так и монокристаллов; как микроскопических, так и полноразмерных промышленных образцов. Он обладает модульной архитектурой и способен функционировать в широком диапазоне различных конфигураций с быстрым переключением между ними, что делает его весьма универсальным инструментом для материаловедения. Bruker D8 Discover идеально подходит для применений в области нанотехнологий. Благодаря ультрасовременной и весьма совершенной оптической системе он позволяет получать подробную и точную информацию о структуре аморфных, моно- и поликристаллических тонких пленок толщиной всего несколько нанометров, изучать структуру поверхности и прослеживать структурные изменения вглубь образца, проводить неразрушающий контроль качества (совершенства) массивных промышленных монокристаллов для электроники и оптики, а также обнаруживать дефекты в наноразмерных кристаллах катализаторов.

Основные технические характеристики:

      • Материалы анода: длиннофокусная рентгеновская трубка  – CuKα;

      • Горизонтальный гониометр с независимыми осями и возможностью измерения в геометрии Theta-2Theta, допустимый диаметр измерительного круга гониометра:  от 500 мм,  до 1050 мм;

      • Гониометр имеет систему позиционирования образца с точностью 50 мкм при помощи лазера и  микроскопа с выводом изображения образца на монитор рабочей станции;

      • Возможность перемещения образца по осям Х и Y (в пределах ±75 мм), изменения глубины образца Z (в пределах 10 мм), изменения угла между плоскостью образца и плоскостью гониометра Chi от -10 до 95°;

      • Диапазон углов сканирования 2θ:  от -110 до 165°;

      • Минимальный шаг сканирования 0.0001°;

      • Детектор отраженных рентгеновских лучей: твердотельный позиционно-чувствительный детектор LYNXEYE:

          • количество каналов регистрации 190;

          • эффективность регистрации рентгеновского Cu-K(aльфа)- излучения не менее 98%;

          • пространственное разрешение детектора 75 мкм.

      • Оптическая система:

          • монохроматизация первичного пучка при помощи 4-х кратного германиевого монохроматора (плоскость 022) c симметричным отражением, с шириной на полувысоте отражения от плоскости 111 кремния Si не более 0,0035 градуса;

          • возможность измерений в геометрии параллельного пучка, создаваемого при помощи многослойной градиентной оптики (параболического зеркала) с расходимостью не более 0,03 градуса;

          • встроенная автоматизированная вторичная оптика – переменные моторизованные щели, щель Соллера  и трехкратный кристалл-анализатор (монокристалл германия ориентации (022)).

Программное обеспечение:

Пакет программ DIFFRAC.SUITE – предоставляет широкие возможности автоматизированной предварительной обработки дифракционных данных, полученных на дифрактометре, проведения качественного и количественного фазового анализа, а также анализ результатов рефлектометрии; обработку результатов измерений дифрактометрии высокого разрешения; обработку данных скользящего падения малоуглового рентгеновского рассеяния (по типу GISAXS); редактор модели структуры, позволяющий создавать модели сверхрешетки и слои со связанными параметрами; моделирование диффузного рассеяния от шероховатости границ (для компланарной рентгеновской рефлектометрии) и наночастиц различных форм (для GISAXS). Программное обеспечение TOPAS является мощным средством проведения полнопрофильного анализа методом Ритвельда, позволяющим уточнять структуры известных веществ и расшифровывать структуры новых соединений и минералов по порошковым данным.

Информация от производителя оборудования:

Размещение:

Петродворцовый учебно-научный комплекс СПбГУ