Спектрометр XRF-1800 позволяет проводить качественный и количественный анализ элементного состава образца в диапазоне от бериллия Be4по уран U92 всего за 2,5 минуты. Максимальные размеры исследуемого образца – 51 ммв диаметре и  38 ммв высоту. Анализ может проводиться на воздухе, в вакууме или среде гелия (для определения лёгких элементов). Кроме стандартного анализа элементного состава возможно также проведение картирования распределения элементов с шагом 250 мкм и локального анализа в точке Ø 500 мкм с помощью микроколлиматоров и встроенной цифровой камеры.

 

Программное обеспечение спектрометра позволяет проводить качественный и количественный анализ с применением линий высших порядков. Кроме того, существует возможность определения толщины и элементного состава плёнок органической природы методом фундаментальных параметров с использованием линий Комптоновского рассеяния, и определения толщины и элементного состава неорганических покрытий.

Определение элементного состава проводится методом волнодисперсионного рентгенофлуоресцентного анализа. Суть метода заключается в облучении исследуемого образца рентгеновским излучением с последующей расшифровкой спектра флуоресцентного излучения, испускаемого возбуждёнными атомами образца. При этом, в отличие от энергодисперсионного метода, анализируется излучение с определённой длиной волны.

Спецификация прибора

Диапазон элементов:

Be4 по U92

Рентгеновский генератор:

Rh-анод c тонким торцевым окном, напряжение  60 кВ, ток 150 мА
опции: W, Pt, Cr аноды

Система охлаждения:

Двойной контур, внутренний замкнутый для охлаждения анода, внешний открытый/замкнутый. Рециркулятор воды (опция).

Автосамплер

8 позиций; 40-позиционный (опция)

Держатели образцов

7 для массивных образцов, 
один для локального анализа

Первичные фильтры

Автоматическая смена 5 типов:
Al, Ti, Ni, Zr, без фильтра

Апертуры

Автоматическая смена 5 типов: 
500 мкм, 3, 10, 20, 30 мм

Локальный анализ

0,5 ммдиаметр; цифровая камера для контроля области анализа (опция)

Первичные щели

Автоматическая смена 3 типов: 
- стандарт
- с высоким разрешением
- с высокой чувствительностью

Сменщик кристаллов

Автоматическая смена 10 кристаллов в двух направлениях

Кристаллы-анализаторы

LiF (200), PET, Ge, TAP стандартные;
LiF (220), SX-52, SX-1, SX-14, SX-88, SX-98, SX-76, SX-410 опции

Детекторы

Сцинтилляционный счётчик (SC) для тяжелых элементов,
Проточный пропорциональный счетчик (FPC) для лёгких элементов

Система подачи газа для FPC

Электронный контроль плотности; 
потребление газа 5 см3/мин

Атмосфера анализа

Воздух/вакуумирование; предварительное вакуумирование с двумя скоростями; система напуска гелия/азота (опция)

Возможности программного обеспечения

Качественно-количественный анализ

 

 

Определение  интенсивности  профиля

Вычисления  с  использованием  метода фундаментальных  параметров

 

Количественный анализ

метод калибровочных кривых

матричная коррекция

метод фундаментальных параметров

метод фоновых ФП

анализ по коэффициенту чувствительности элемента

картирующий  анализ

коррекция фона

коррекция холостой пробы

коррекция дрейфа

коррекция наложения спектров

поправка по внутреннему стандарту

поправка по эталонному графику

Метод построения калибровочных кривых 

Строится кривая, отображающая зависимость между содержанием элемента в стандартном образце и его измеренной интенсивностью (калибровочная кривая), затем находится содержание элемента в неизвестном образце.

Метод фундаментальных параметров

Используя теоретически рассчитанные интенсивности флуоресцентного излучения, определяются содержания в образце по фактически измеренным интенсивностям.

Этот метод может быть применён

      • Без использования стандартного образца

      • С использованием стандартного образца

Метод фоновых ФП

Метод  Фоновых  Фундаментальных  Параметров представляет  собой  метод  условных фундаментальных  параметров,  в  котором  определяется  только флуоресцентное излучение (чистый пик) за счет интенсивности рассеяния (фона).

Картирующий  анализ

Определяется плотность распределения элементов в различных точках образца.

Коррекция при количественном анализе

      • коррекция фона

Замеряемый  спектр  рентгеновского  излучения  состоит  из рентгеновской  флуоресценции  и  рассеивания  (фона).  Поскольку  для определения  используется  интенсивность  рентгеновской  флуоресценции,  то она  определяется  методом  вычитания  фона  из  замеряемого  спектра излучения.

      • коррекция холостой пробы

При  Коррекции  Холостой  Пробы  записываются  данные  анализа холостого  образца  и  в  дальнейшем  результаты  определения интенсивности холостого  образцы  вычитаются  из  результатов определения  неизвестного образца.

      • коррекция дрейфа

Со  временем  интенсивность  рентгеновского  излучения  претерпевает небольшие  изменения  вследствие  колебаний  температуры  или  некоторых вариаций  в  состоянии  детектора.  Для  решения  этой  проблемы проводится калибровка  стандартной  интенсивности  с  использованием стандартного образца.

      • коррекция наложения спектров

Поскольку образец и матрица располагаются близко друг от друга, то их рентгеновские спектры могут перекрываться. Чтобы вычислить необходимую интенсивность измеряют образец без исследуемого элемента.

      • поправка по внутреннему стандарту

Функция  Поправки  по  Внутреннему  Стандарту  заключается в определении  соотношения  интенсивности  рентгеновского  излучения элемента стандарта к элементу в том же образце.

      • поправка по эталонному графику

С  помощью  Поправки  по  Эталонному количественные  величины,  полученные  для  неизвестного образца, исправляются так, чтобы они попали в установленные диапазоны. В качестве установленных величин в данном методе используются диапазоны и коэффициенты поправки стандартного образца, очень близкого по составу к неизвестному  образцу.

Области применения

      • Исследование новых соединений и материалов

      • Экология и охрана окружающей среды

    определение тяжелых металлов в почвах, осадках, воде, аэрозолях и др.

      • Геология и минералогия

    качественный и количественный анализ почв, минералов, горных пород и др.

      • Металлургия и химическая индустрия

    контроль качества сырья, производственного процесса и готовой продукции

      • Лакокрасочная промышленность

    анализ свинцовых красок

      • Ювелирная промышленность

    измерение концентраций ценных металлов

      • Нефтяная промышленность

    определение загрязнений нефти и топлива

      • Пищевая промышленность

    определение токсичных металлов в пищевых ингредиентах

     • Сельское хозяйство

    анализ микроэлементов в почвах и сельскохозяйственных продуктах

      • Археология

    элементный анализ археологических находок