Zeiss Merlin - сканирующий электронный микроскоп с полевым эмиссионным катодом, колонной электронной оптики GEMINI-II и безмаслянной вакуумной системой.

Помимо детекторов вторичных электронов In-lens SE и SE2, микроскоп оснащен четырехквадрантным детектором обратно-рассеянных электронов (AsB) и детектором обратно-рассеянных электронов с фильтрацией по энергиям (EsB).

Аналитические возможности микроскопа расширены дополнительными приставками для рентгеновского микроанализа Oxford Instruments INCAx-act и системой регистрации дифракции обратнорассеянных электронов (EBSD) Oxford Instruments CHANNEL5.

Подробнее: Сканирующий электронный микроскоп Zeiss Merlin

Рабочая станция Auriga Laser с пересекающимися ионным и электронным пучками дополнительно укомплектована твердотельным лазером.

Подробнее: Zeiss AURIGA Laser

Настольный сканирующий электронный микроскоп ТМ3000 чрезвычайно прост в управлении и имеет очень компактные размеры, что делает его идеальным для образовательных учреждений. Режим низкого вакуума позволяет исследовать непроводящие образцы без предварительного напыления. Удобный графический пользовательский интерфейс и простота в обслуживании позволяют использовать его в образовательном процессе. Прибор оснащен приставкой энергодисперсионного микроанализа OXFORD, что существенно расширяет круг решаемых задач.

Система со сфокусированными электронным и ионным зондами QUANTA 200 3D (FIA, Нидерланды), на базе которой смонтирован аналитический комплекс Pegasus 4000 (EDAX, USA).

ВОЗМОЖНОСТИ СИСТЕМЫ QUANTA 3D

Микроскоп Quanta 3D DualBeam® представляет собой комбинацию двух систем:

- растрового электронного микроскопа (РЭМ), дающего изображения разнообразных образцов в цифровой форме с увеличением более 100 000 крат;

- фокусированного ионного пучка (ФИП), способного быстро и прецизионно удалить слой материала образца, обнажить структуры под поверхностным слоем, создать сечение, осадить слой материала и т.п. Кроме того, ионный пучок, также как и электронный, может создать изображение с высоким разрешением.

Подробнее: Система со сфокусированными электронным и ионным зондами QUANTA 200 3D

Конфокальный лазерный микроскоп Leica TCS SPE – это конфокальная система точечного сканирования со спектральным детектором для флуоресцентной регистрации пространственной структуры живых и фиксированных объектов. В качестве источника света служат лазеры, обладающие высокой интенсивностью и монохроматичностью излучения. В систему входит четыре твердотельных лазера с длиной волны 405, 488, 532, и 635 нм. Метод конфокальной микроскопии находит широкое применение в области биологии, медицины, биофизики, молекулярной и клеточной биологии. Он позволяет исследовать ткани на клеточном уровне в состоянии физиологической жизнедеятельности.