• Главная
    • Что такое Научный парк
    • Как выполнить работу в Научном парке
    • Служебное жилье
    • Нормативные документы
      • Согласие на обработку персональных данных
  • Новости
    • Архив мероприятий
      • Конференция Научного парка 2014
      • Конференция Научного парка 2015
      • Семинар Биобанка 2016
      • Конференция Современные методы термического анализа
  • Научный парк
    • Центры
    • Нормативные документы
    • Оборудование
      • Исследовательские стенды
      • Обновление приборной базы
      • Загрузка оборудования
      • Вычислительные ресурсы
        • Программное обеспечение
        • Вычислительные ресурсы
      • Оборудование вузов - членов АВУ
    • Методики
      • Исследовательские методики
      • Аттестованные методики
    • Перечень услуг
    • Обучение
    • Дополнительное образование
    • Работа с музеями
  • Работа Научного парка
    • Публикации
    • Статистика по публикациям
    • Отзывы
    • Текущие проекты
    • Статистика
    • Загрузка оборудования
  • Информация
    • Новости
      • Архив мероприятий
        • Конференция Научного парка 2014
        • Конференция Научного парка 2015
        • Конференция Современные методы термического анализа
        • Семинар Биобанка 2016
    • Презентация Научного парка
    • Партнеры
    • Недобросовестные партнеры
    • Система приема заявок
    • СМИ о нас
    • Печатные материалы
    • Виртуальные экскурсии
    • Видеоматериалы
  • Контакты
    • Дирекция Научного парка
    • Директора ресурсных центров
    • Служба поддержки
    • Заявки
      • Заявка на измерения для внешних пользователей
      • Заявка на стажировку
      • Заявка на ознакомительную экскурсию
                 

Система со сфокусированными электронным и ионным зондами QUANTA 200 3D

Система со сфокусированными электронным и ионным зондами QUANTA 200 3D (FIA, Нидерланды), на базе которой смонтирован аналитический комплекс Pegasus 4000 (EDAX, USA).

ВОЗМОЖНОСТИ СИСТЕМЫ QUANTA 3D

Микроскоп Quanta 3D DualBeam® представляет собой комбинацию двух систем:

- растрового электронного микроскопа (РЭМ), дающего изображения разнообразных образцов в цифровой форме с увеличением более 100 000 крат;

- фокусированного ионного пучка (ФИП), способного быстро и прецизионно удалить слой материала образца, обнажить структуры под поверхностным слоем, создать сечение, осадить слой материала и т.п. Кроме того, ионный пучок, также как и электронный, может создать изображение с высоким разрешением.

Подробнее: Система со сфокусированными электронным и ионным зондами QUANTA 200 3D

Настольный растровый электронный микроскоп-микроанализатор TM 3000 (HITAСHI, Япония)

Настольный сканирующий электронный микроскоп ТМ3000 чрезвычайно прост в управлении и имеет очень компактные размеры, что делает его идеальным для образовательных учреждений. Режим низкого вакуума позволяет исследовать непроводящие образцы без предварительного напыления. Удобный графический пользовательский интерфейс и простота в обслуживании позволяют использовать его в образовательном процессе. Прибор оснащен приставкой энергодисперсионного микроанализа OXFORD, что существенно расширяет круг решаемых задач.

Конфокальный лазерный микроскоп LEICA TCS SPE (Leica, Германия).

Конфокальный лазерный микроскоп Leica TCS SPE – это конфокальная система точечного сканирования со спектральным детектором для флуоресцентной регистрации пространственной структуры живых и фиксированных объектов. В качестве источника света служат лазеры, обладающие высокой интенсивностью и монохроматичностью излучения. В систему входит четыре твердотельных лазера с длиной волны 405, 488, 532, и 635 нм. Метод конфокальной микроскопии находит широкое применение в области биологии, медицины, биофизики, молекулярной и клеточной биологии. Он позволяет исследовать ткани на клеточном уровне в состоянии физиологической жизнедеятельности.

Атомно-силовой микроскоп — зондовая нанолаборатория INTEGRA-AURA (NT-MDT, Россия)

Атомно-силовой микроскоп (АСМ) — зондовая нанолаборатория INTEGRA-AURA (NT-MDT, Россия) — сканирующий зондовый микроскоп высокого разрешения. Принцип работы АСМ основан на регистрации силового взаимодействия между поверхностью исследуемого образца и зондом. Исследования могут проводиться на воздухе, в вакууме и в жидкости, что открывает возможность изучения биомакромолекул и живых клеток. АСМ используется для изучения рельефа поверхности с разрешением от десятков ангстрем вплоть до атомарного.

Комплекс оборудования для палеомагнитного анализа горных пород

Комплекс оборудования для палеомагнитного анализа горных пород. Получение данных о фазовом и химическом составе разновозрастных горных пород различного генезиса, в частности, образцов рудных месторождений, импактитов, базальтоидов Антарктиды и лавовых потоков Камчатки; величине древнего магнитного поля Земли на разновозрастных коллекциях горных пород.

Комплекс оборудования для палеомагнитного анализа горных пород.

Представляет собой совокупность оборудования для экспериментального изучения магнитных свойств горных пород различного генезиса, позволяя получать информацию о направлении и величине древнего магнитного поля Земли, а также о фазовом и химическом составе ферримагнитной фракции образцов горных пород.

Подробнее: Комплекс оборудования для палеомагнитного анализа горных пород

  1. Аппаратный комплекс для экспериментального моделирования минералообразующих процессов
  2. Аппаратурно-программный комплекс электромагнитных зондирований
  3. Комплекс радиофизического оборудования для изучения параметров ионосферной плазмы и распространения радиоволн
  4. Комплекс для измерения свойств атмосферного аэрозоля
  5. Комплекс для измерения климатических параметров атмосферы

Страница 57 из 91

  • 52
  • 53
  • 54
  • 55
  • 56
  • 57
  • 58
  • 59
  • 60
  • 61

Выберите язык

  • Russian
  • English (UK)
  • Что такое Научный парк
  • Центры
  • Оборудование
    • Исследовательские стенды
    • Загрузка оборудования
  • Методики
    • Исследовательские методики
    • Аттестованные методики
  • Обучение
  • Перечень услуг
  • Дополнительное образование
  • Печатные материалы
  • Центр экспертиз СПбГУ
  • Работа с музеями
© 2026 Научный парк СПбГУ
Служба поддержки: esrc-support@spbu.ru

На данном информационном ресурсе могут быть опубликованы архивные материалы с упоминанием физических и юридических лиц, включенных Министерством юстиции Российской Федерации в реестр иностранных агентов.