Сканирующая туннельная микроскопия (СТМ) и сканирующая туннельная спектроскопия (СТС)

Данные методы позволяют получить изображение поверхности образца с атомарным разрешением, энергетический спектр заполненных и свободных состояний, распределение работы выхода и локальной плотности состояний с высоким латеральным разрешением.