Успешно введен в эксплуатацию сканирующий электронный микроскоп Merlin.

На новый микроскоп установлены системы рентгеновского микроанализа INCA X-act и регистрации дифракции отраженных электронов HKL CHANNEL5, ранее использовавшиеся совместно с СЭМ SUPRA-40.

Успешно установлено дополнительное оборудование для подготовки образцов:

Полуавтоматический станок шлифовки и полировки Buehler Minimet

Система прецизионной механической подготовки поверхности образцов Leica EM TXP

Автоматическая система криофиксации образцов Leica EM GP

Система ионной полировки Fischione NanoMill.

На сканирующий ионный гелиевый микроскоп ORION успешно установлена система ионной литографии NanoMaker.

 08 ноября 2010 г.  завершены регламентные работы на СЭМ SUPRA, выполнение заявок возобновляется.

Научная работа "Electrical levels of dislocation network in p- and n-type silicon" магистранта кафедры электроники твердого тела физического факультета СПбГУ Ивана Исакова по результатам, полученным на оборудовании МРЦ-НТ, на международной конференции по протяженным дефектам в полупроводниках EDS-2010 была признана лучшей среди докладов молодых ученых и отмечена премией Гельмута Александра (Helmut Alexander).

Желаем Ивану дальнейших научных успехов!