08 ноября 2010 г.  завершены регламентные работы на СЭМ SUPRA, выполнение заявок возобновляется.

Научная работа "Electrical levels of dislocation network in p- and n-type silicon" магистранта кафедры электроники твердого тела физического факультета СПбГУ Ивана Исакова по результатам, полученным на оборудовании МРЦ-НТ, на международной конференции по протяженным дефектам в полупроводниках EDS-2010 была признана лучшей среди докладов молодых ученых и отмечена премией Гельмута Александра (Helmut Alexander).

Желаем Ивану дальнейших научных успехов!

С 29 сентября 2010 г. запланировано выполнение регламентных работ на СЭМ SUPRA-40, в связи с чем в графике выполнения проектов МРЦ возможны изменения.

На сканирующем электронном микроскопе Supra 40VP успешно завершена установка нового детектора для работы в режиме растровой просвечивающей микроскопии (STEM).

Зарегистрированные пользователи МРЦ-НТ могут получить дистрибутив бесплатной программы для обработки изображений с растровых электронных микроскопов Carl Zeiss SmartTIF.

Программа позволяет проводить измерения на изображениях, добавлять аннотации, строить профили контраста и пр.

За дистрибутивом обращайтесь в МРЦ.