• Главная
    • Что такое Научный парк
    • Как выполнить работу в Научном парке
    • Служебное жилье
    • Нормативные документы
      • Согласие на обработку персональных данных
  • Новости
    • Архив мероприятий
      • Конференция Научного парка 2014
      • Конференция Научного парка 2015
      • Семинар Биобанка 2016
      • Конференция Современные методы термического анализа
  • Научный парк
    • Центры
    • Нормативные документы
    • Оборудование
      • Исследовательские стенды
      • Обновление приборной базы
      • Загрузка оборудования
      • Вычислительные ресурсы
        • Программное обеспечение
        • Вычислительные ресурсы
      • Оборудование вузов - членов АВУ
    • Методики
      • Исследовательские методики
      • Аттестованные методики
    • Перечень услуг
    • Обучение
    • Дополнительное образование
    • Работа с музеями
  • Работа Научного парка
    • Публикации
    • Статистика по публикациям
    • Отзывы
    • Текущие проекты
    • Статистика
    • Загрузка оборудования
  • Информация
    • Новости
      • Архив мероприятий
        • Конференция Научного парка 2014
        • Конференция Научного парка 2015
        • Конференция Современные методы термического анализа
        • Семинар Биобанка 2016
    • Презентация Научного парка
    • Партнеры
    • Недобросовестные партнеры
    • Система приема заявок
    • СМИ о нас
    • Печатные материалы
    • Виртуальные экскурсии
    • Видеоматериалы
  • Контакты
    • Дирекция Научного парка
    • Директора ресурсных центров
    • Служба поддержки
    • Заявки
      • Заявка на измерения для внешних пользователей
      • Заявка на стажировку
      • Заявка на ознакомительную экскурсию
                 

Система документации DitaBis Vario

Система захвата изображения.

Прибор может быть использован для замены традиционных фотопластинок при документации изображений, получаемых на просвечивающих электронных микроскопах Jeol JEM-1400 и Jeol JEM-2100.

Размещение: Василеостровская площадка.

Статус: эксплуатация в рабочем режиме.

ditabis-vario.jpg

Подробнее: Система документации DitaBis Vario

Плазменная очистка держателя и образца Jeol JIC-410

Устройство плазменной чистки образцов Jeol JIC-410.

Прибор может быть использован для очистки держателей ПЭМ от углеводородных загрязнений.

Размещение: Василеостровская площадка.

Статус: эксплуатация в рабочем режиме.

Подробнее: Плазменная очистка держателя и образца Jeol JIC-410

Вакуумная станция Gatan 655

Вакуумный пост Gatan 655 Turbo Pumping Station прибор может быть использован для:

  • • обслуживания томографического криодержателя Gatan 914,
  • • хранения образцов в вакууме.

Размещение: Василеостровская площадка.

Статус: эксплуатация в рабочем режиме.

Подробнее: Вакуумная станция Gatan 655

Криодержатель томографический Gatan 914

Система криопереноса и томографический криодержатель (Gatan 914) с контроллером температуры (Gatan 900). 

Прибор может быть использован для:

  • • переноса подготовленного образца в колонны Jeol JEM-1400 и Jeol JEM-2100 в замороженном состоянии;
  • • получения серий снимков под разными углами и последующей реконструкции трехмерного изображения образца (электронно-лучевая томография);
  • • хранения образцов на сеточках в замороженном состоянии. 

Размещение: Василеостровская площадка.

Статус: эксплуатация в рабочем режиме.

Подробнее: Криодержатель томографический Gatan 914

ПЭ-СЭМ Tescan MIRA3 LMU

Сканирующая (растровая) электронная микроскопия (СЭМ, РЭМ) позволяет получить изображения объёмных электронно-плотных образцов с высоким разрешением путём сканирования образцов тонко сфокусированным пучком электронов. Возможно получение информации о строении поверхности объекта (топографический контраст, вторичные электроны), о составе объекта (обратно-рассеянные электроны, анализ характеристического рентгеновского излучения) и некоторых других характеристик. Сканирующий электронный микроскоп Tescan MIRA 3 LMU c возможностью работы при низком вакууме и с напуском водяных паров может применяется в исследованиях биологических образцов для:

  • • сканирующей электронной микроскопии высокого разрешения (до 1 нм), 
  • • сканирующей электронной микроскопии в низковакуумном режиме для обводнённых и непроводящих образцов, 
  • • сканирующей криоэлектронной микроскопии при температуре до -130оС,
  • • энергодисперсионного микроанализа (ЭДА, EDS).

Размещение: Василеостровская площадка.

Статус: эксплуатация в рабочем режиме.

Подробнее: ПЭ-СЭМ Tescan MIRA3 LMU

  1. Настольный СЭМ Jeol JCM-5000 Neoscope
  2. Устройство для замораживания/скалывания, высокоуглового напыления Leica EM BAF-060 c системой вакуумного криопереноса Leica EM VCT-100
  3. Ультратом Leica EM UC7
  4. Криоультратом Leica EM UC7 + FC7
  5. Станция для изготовления стеклянных ножей Leica EM KMR3

Страница 28 из 91

  • 23
  • 24
  • 25
  • 26
  • 27
  • 28
  • 29
  • 30
  • 31
  • 32

Выберите язык

  • Russian
  • English (UK)
  • Что такое Научный парк
  • Центры
  • Оборудование
    • Исследовательские стенды
    • Загрузка оборудования
  • Методики
    • Исследовательские методики
    • Аттестованные методики
  • Обучение
  • Перечень услуг
  • Дополнительное образование
  • Печатные материалы
  • Центр экспертиз СПбГУ
  • Работа с музеями
© 2026 Научный парк СПбГУ
Служба поддержки: esrc-support@spbu.ru

На данном информационном ресурсе могут быть опубликованы архивные материалы с упоминанием физических и юридических лиц, включенных Министерством юстиции Российской Федерации в реестр иностранных агентов.