Информация о материале

Категория: Оборудование РЦ Инновационные технологии композитных наноматериалов

Просмотров: 6772

Вибрационный магнитометр Lake Shore 7410 позволяет проводить измерения намагниченности образцов в диапазоне от 10^-7 до 10³ Ам²/кг, создавать магнитные поля до 2.3 Тл в температурном диапазоне от 4.4 К до 450 К в инертной атмосфере или вакууме. Поворотный держатель позволяет определять лёгкие линии намагничивания.

Подробнее

Информация о материале

Категория: Оборудование РЦ Инновационные технологии композитных наноматериалов

Просмотров: 6070

Установка для комплексного измерения диэлектрических свойств материалов Novocontrol Concept 40 (Novocontrol Technologies) позволяет проводить анализ диэлектрических и электрофизических свойств материалов в диапазоне частот от 3 мкГц до 30 МГц в диапазоне температур от -160^оС до +400^оС.

Подробнее

Информация о материале

Категория: Оборудование РЦ Инновационные технологии композитных наноматериалов

Просмотров: 7923

			Измерительный комплекс, состоящий из анализатора частотного отклика (импедансометра) Solartron 1260A, потенциостата/гальваностата Solartron 1287  измерительной ячейки ProboStat, лифтовой печи и установки для приготовления газовых смесей ProGasMix позволяет проводить измерение электрохимических и электрофизических характеристик материалов в широком диапазоне температур (до 1200оС), в различных газовых средах, в диапазоне частот от 10 мкГц до 32 МГц.

Подробнее

Информация о материале

Категория: Оборудование РЦ Инновационные технологии композитных наноматериалов

Просмотров: 6098

Прибор Agilent B1500A в комплексе с зондовой станцией РМ-5 (Cascade Microtech) позволяет проводить измерения электрофизических свойств полупроводниковых структур (вольт-амперные и вольт-фарадные характеристики).

Подробнее

Информация о материале

Категория: Оборудование РЦ Инновационные технологии композитных наноматериалов

Просмотров: 5562

Спектральный эллипсометрический комплекс "Эллипс 1891 САГ" (диапазон длин волн 350-1000 нм) предназначен для проведения прецизионных измерений толщины однослойных и многослойных тонкопленочных структур, а также исследования спектральных оптических постоянных (показателя преломления и коэффициента поглощения), структурных свойств материалов (пористость; наличие, концентрация и распределение примесей в пленке).

Подробнее