SAXSess mc² — малоугловой рентгеновский дифрактометр, предназначенный для характеристики структуры в нанометровом диапазоне. Система является идеальным инструментом для анализа наноструктур, присутствующих в различных видах образцов, от жидкостей (например, коллоиды, растворы белков) до твёрдых тел (например, полимерные плёнки, нанокомпозиты). Когда рентгеновские лучи проникают в такие материалы, они рассеиваются на поверхностях раздела с наноструктурами. Это даёт профиль рассеяния, специфичный для данной структуры.
Метод SAXS точный, экономичный, не деструктивный и обычно нуждается в минимальной пробоподготовке. Более того, SAXS позволяет исследовать взаимодействия между молекулами в режиме реального времени.
Уникальное сочетание современной оптики с коллиматорным блоком высочайшего качества дают на выходе мощный монохроматический первичный пучок сфокусированный за анализируемым образцом, что позволяет быстро измерить профиль рассеяния даже от образцов с низкой контрастностью. Сигнал рассеяния детектируется 2D – чувствительной пластиной, обладающей широким линейным динамическим диапазоном.
Широкоугловое расширение для SAXSess позволяет одновременно измерять весь угловой диапазон рассеяния от 0° до 40°, покрывая размеры исследуемых наноструктур от 0.2 нм до 150 нм.
Основные направления, объекты исследований:
- размер частиц взвешенных нанопорошков;
- катализаторы (определение поверхности на единицу объёма);
- бетон, каменный уголь и аморфные твёрдые тела;
- сплавы;
- форма частиц;
- внутренняя структура частиц;
- отношение величины поверхности к объему, пористость;
- молекулярный вес, число агрегации;
- степень кристалличности;
- распределение частиц по размерам;
- самоорганизующиеся ПАВ-системы;
- микроэмульсии;
- липидные мембраны;
- объекты молекулярной биологии (белки, вирусы, комплексы ДНК и т.д.);
- исследования полимеров;
- волокна.
Основные технические характеристики:
- материалы анода: длиннофокусная рентгеновская трубка – CuKα (0.1542 нм);
- фокусирующее многослойное зеркало;
- расстояние образец-детектор – от 250 мм до 280 мм;
- детектор отраженных рентгеновских лучей – Princeton Instruments SCX- 4300 типа CCD (Charge-Coupled Device):
- размер матрицы – 2084 × 2084,
- размер пикселя – 24 x24 μm;
- детектор отраженных рентгеновских лучей – Image Plate 62 мм х 60 мм или 200 мм х 60 мм;
- держатели образцов:
- заправляемый кварцевый капилляр для жидкостей (диаметр = 1 мм),
- держатель для пленок 5 мм × 20 мм,
- система температурного контроля образца с диапазоном температур до 300°C.
Программное обеспечение
Информация от производителя оборудования
SAXSess - The Modular Tool for Nanostructure Analysis.pdf
Размещение
Петродворцовский учебно-научный комплекс СПбГУ.
