SAXSess mc² — малоугловой рентгеновский дифрактометр, предназначенный для характеристики структуры в нанометровом диапазоне. Система является идеальным инструментом для анализа наноструктур, присутствующих в различных видах образцов, от жидкостей (например, коллоиды, растворы белков) до твёрдых тел (например, полимерные плёнки, нанокомпозиты). Когда рентгеновские лучи проникают в такие материалы, они рассеиваются на поверхностях раздела с наноструктурами. Это даёт профиль рассеяния, специфичный для данной структуры.
Универсальный цифровой микроскоп с различными телецентрическими зум-объективами с диапазонами увеличений от 100х до 1000х, 250х до 2500х, от 500х до 5000х.
Предназначен для аналитических исследований с возможностью автоматического получения трехмерного изображения и измерений в 2D и 3D в реальном времени.
Позволяет изучать морфологию биообъектов (водоросли, макрофиты, перифитон, цианобактерии, зоопланктон, зообентос, водные грибы) характер, локализацию и механизмы клеточных повреждений в результате воздействий различных химических веществ (например, в процессе аллелопатических взаимодействий) или воздействии загрязняющих веществ. Способен выявлять систематически значимые признаки у водных организмов или признаки, изменяющиеся у видов-вселенцев в новых для них местах обитания.
Спектрометр-радиометр МКГБ 01
Спектрометр - радиометр гамма излучения МКГБ-01 «РАДЭК» предназначен для измерения энергетического распределения гамма излучения и активности гамма - излучающих радионуклидов.
Спектрометр относится к стационарным средствам измерения и предназначен для эксплуатации в лабораторных условиях. Спектрометр применяется для измерения активности (удельной активности) природных (ПРН) 226Ra, 232Th, 40K,222Rn, и искусственных радионуклидов (137Cs и др.) в пробах почв, горных пород, растительности, воды, продуктах питания, строительных материалах, материалах химических производств, сплавах, металлоломе и других технологических продуктах.
Цифровой микроскоп Leica DVM 5000
Современный цифровой микроскоп высокого разрешения для работы в различных областях науки и техники. Конструкция микроскопа позволяет изучать объекты в проходящем, отраженном и боковом свете.
- Увеличение до х7000.
- Усовершенствованная оптика позволяет просматривать даже труднодоступные участки объекта.
- Система «Multifocus» позволяет получать изображения объектов высокой четкости, не зависимо от рельефа поверхности образца.
- Получение и анализ 3D-изображения в высоком разрешении.
- Анализ неровностей и оценка профиля срезов.
