Метод оптической спектроскопии, основанный на анализе спектрального состава лазерного излучения, отраженного от плоского образца. Измерения могут быть проведены при температурах от 1.5 до 300 К и в магнитных полях до 7 Тл. В качестве источников широкоспектрального излучения могут быть использованы фемтосекундные титан-сапфировые лазеры. Регистрация отражения в геометрии Брюстера позволяет упростить интерпретацию спектра, и независимо определять радиационную ширину и нерадиационное уширение экситонных резонансов в образцах с квантовыми ямами A3B5.
