• Главная
    • Что такое Научный парк
    • Как выполнить работу в Научном парке
    • Служебное жилье
    • Нормативные документы
      • Согласие на обработку персональных данных
  • Новости
    • Архив мероприятий
      • Конференция Научного парка 2014
      • Конференция Научного парка 2015
      • Семинар Биобанка 2016
      • Конференция Современные методы термического анализа
  • Научный парк
    • Центры
    • Нормативные документы
    • Оборудование
      • Исследовательские стенды
      • Обновление приборной базы
      • Загрузка оборудования
      • Вычислительные ресурсы
        • Программное обеспечение
        • Вычислительные ресурсы
      • Оборудование вузов - членов АВУ
    • Методики
      • Исследовательские методики
      • Аттестованные методики
    • Перечень услуг
    • Обучение
    • Дополнительное образование
    • Работа с музеями
  • Работа Научного парка
    • Публикации
    • Статистика по публикациям
    • Отзывы
    • Текущие проекты
    • Статистика
    • Загрузка оборудования
  • Информация
    • Новости
      • Архив мероприятий
        • Конференция Научного парка 2014
        • Конференция Научного парка 2015
        • Конференция Современные методы термического анализа
        • Семинар Биобанка 2016
    • Презентация Научного парка
    • Партнеры
    • Недобросовестные партнеры
    • Система приема заявок
    • СМИ о нас
    • Печатные материалы
    • Виртуальные экскурсии
    • Видеоматериалы
  • Контакты
    • Дирекция Научного парка
    • Директора ресурсных центров
    • Служба поддержки
    • Заявки
      • Заявка на измерения для внешних пользователей
      • Заявка на стажировку
      • Заявка на ознакомительную экскурсию
                 

12.10.2012 Аппарат сушки в критической точке доступен для работы

Аппарат для сушки в критической точке Leica EM CPD300 доступен для работы. В связи с отсутствием централизованной закупки технических газов, возможно проведение только 20 запусков прибора. По этой же причине до закупки аргона недоступно устройство для напыления проводящих покрытий Leica EM SCD500. Подробнее. 

12.10.2012 Снова доступен для работы ПЭМ Jeol JEM-1400

После кратковременного технического перерыва в работе, снова доступен для использования просвечивающий электронный микроскоп  Jeol JEM-1400 .

10.10.2012 Встреча с молодыми учёными СПбГУ

Состоялась встреча с молодыми учёными СПбГУ. На встрече были затронуты вопросы о регламенте работы РЦ, группах оборудования, сроках ввода оборудования в эксплуатаци, сроков завершения ремонтов в помещениях ресурсного центра. Материалы презентации доступны в формате PDF.

04.10.2012 Стереомикроскоп с режимом флуоресценции

Успешно завершена установка и настройка флуоресцентного стереомикроскопа Leica M205FA с возможностью установки микроманипуляторов и инкубационной системой для поддержания температуры и газового состава.  Подробнее.

Стереомикроскоп с режимом флуоресценции

 

02.10.2012 Сотрудники РЦ получили сертификаты Bruker

    Сотрудники РЦ Сергей Смирнов и Александр Иванов прошли обучение на курсах по эксплуатации и обслуживанию ЯМР спектрометров серии Avance фирмы Bruker и получили сертификаты.

Smirnov_cert_Bruker

  1. 01.10.2012

Страница 259 из 275

  • 254
  • 255
  • 256
  • 257
  • 258
  • 259
  • 260
  • 261
  • 262
  • 263

Выберите язык

  • Russian
  • English (UK)
  • Что такое Научный парк
  • Как выполнить работу в Научном парке
  • Заявка на измерения для внешних пользователей
  • Заявка на стажировку
  • Заявка на ознакомительную экскурсию
  • Заявка на проведение встречи с индустриальным/бизнес-партнером
  • Новости
  • Система работы с темами социологических исследований (STSR)
  • Система ResearchIMS 2.0
© 2026 Научный парк СПбГУ
Служба поддержки: esrc-support@spbu.ru

На данном информационном ресурсе могут быть опубликованы архивные материалы с упоминанием физических и юридических лиц, включенных Министерством юстиции Российской Федерации в реестр иностранных агентов.