LAS AF программа автоматического контроля для лазерного сканирующего конфокального микроскопа (LEICA TSC SP5). Позволяет управлять всеми настройками микроскопа и осуществлять обработку полученных данных.

Используя сайт, Вы соглашаетесь с тем, что СПбГУ применяет файлы «cookie» и сервисы Яндекс.Метрика. Продолжая работу с сайтом, Вы даете свое согласие на обработку персональных данных. Вы можете управлять настройками cookie в Вашем браузере