Энергодисперсионный рентгенофлуоресцентный спектрометр EDX-8100P на базе кремниевых дрейфовых детекторов с термоэлектрическим охлаждением, обеспечивает прекрасную чувствительность и разрешение и может применяться для различных исследований, от экологического контроля и исследования материалов до анализов, требующих прецизионных высокочувствительных измерений.
EDX 8100P позволяет проводить измерение содержания элементов от C до U в атмосфере гелия, либо в условиях вакуума (остаточное давление воздуха менее 20 Па), это позволяет добиться низких пределов обнаружения для лёгких элементов и определять их в жидких, легколетучих образцах.
Пределы обнаружения для каждого элемента существенно зависят от состава пробы, агрегатного состояния, для некоторых элементов предел обнаружения в реальных образцах составляет не более 0,1ppm.
Наш прибор позволяет проводить измерения как с расчётом методом фундаментальных параметров (не требует стандартных образцов для построения градуировочной зависимости), так и по методу абсолютной градуировки. Возможность использования 5 различных встроенных фильтров излучения позволяет во многих случаях добиться исключения мешающего влияния линий основного компонента/матрицы, тем самым понизив предел обнаружения интересующего нас элемента.
Мы можем проводить анализ микроколичеств образца (порядка 10 мг), однако в этом случае пределы обнаружения будут высокими. Прибор оснащен видеокамерой ячейки образца, таким образом, мы можем проводить анализ вкраплений (минимальный диаметр пучка излучения 1 мм).
Оптимальными условиями являются: для жидкостей - объём 10 мл, для природных оксидных систем - 10 г. Для металлических образцов – таблетки диаметром 3 см и толщиной не менее 1 мм. Толщину слоя таких образцов достаточная для получения максимально возможного аналитического сигнала.
Особенности проведения рентгеновского спектрального анализа:
-
Метод превосходно работает для определения состава сплавов. Ни один другой метод в РЦ МАСВ не обеспечивает сопоставимую точность определения состава сплавов.
-
Дисперсность образца (шероховатость поверхности) имеет большое значение – для проведения ответственных измерений образец должен быть измельчён до аналитической пудры, твёрдый образец зашлифован до плоской ровной поверхности.
-
Метод фундаментальных параметров не обеспечивает высокую точность измерений, но при этом не требует стандартных образцов и хорошо подходит для сравнения родственных образцов между собой.
-
При наличии образцов с известным содержанием интересующих элементов (или возможности их приготовления) предпочтительно построение градуировочной зависимости, при этом принципиально важно, чтобы основа образца (матрица) была такой же или очень близкой к анализируемому образцы. Всегда обсуждайте этот момент со специалистом.
-
Информация о потерях при прокаливании образцов даёт существенное увеличение точности.
-
Для грубого картирования образца лучше использовать XRF-1800.
