Энергодисперсионный рентгенфлуоресцентный спектрометр EDX-800P

Информация о материале: Категория: Оборудование РЦ Методы анализа состава вещества; Просмотров: 7271

Спектрометр EDX-800P предназначен для быстрого неразрушающего определения качественного и количественного элементного состава (от C6 до U92) твёрдых и жидких образцов, порошков, гранул, пластин, плёнок. Большая камера позволяет проводить измерения образцов диаметром до 300 мм и высотой до 150 мм. Анализ может проводиться на воздухе, в вакууме или среде гелия (для определения лёгких элементов в жидкостях). Пять типов первичных фильтров дают возможность снизить влияние фона и значительно улучшить пределы обнаружения элементов в образцах различной природы.

Благодаря программному обеспечению спектрометра возможно определять толщину и элементный состав тонких плёнок и покрытий, а использование метода фоновых фундаментальных параметров позволяет анализировать плёнки органической природы. Кроме того, существует возможность коррекции на интенсивность, энергию, полуширину пика. Программа сопоставления состава (интенсивность / содержание) использует библиотеки данных и исключает необходимость наличия стандартных образцов для количественного анализа.

Определение элементного состава проводится методом энергодисперсионного рентгенофлуоресцентного анализа. Суть метода заключается в облучении исследуемого образца рентгеновским излучением с последующей расшифровкой спектра флуоресцентного излучения, испускаемого возбуждёнными атомами образца.

Спецификация прибора EDX-800P

Диапазон элементов	C6 – U92
Рентгеновский генератор	трубка с анодом Rh, воздушное охлаждение, напряжение 5-50 кВ, ток 1-1000 мкА
Облучаемая площадь	диаметр 10 мм
Коллиматоры (опция)	автоматический выбор 4 типов: 1, 3, 5 и 10 мм либо 1, 3 и 10 мм
Детекторы	EDX-800P: Si(Li), жидкий азот необходим только на время измерений, расход 1 л/день
Кюветное отделение	анализ на воздухе, в вакууме или среде гелия (опция); 16-позиционный автосамплер; устройство для вращения образца

Возможности программного обеспечения:

Качественный анализ	автоматический и ручной режим расшифровки пиков
Количественный анализ	метод калибровочных кривых; матричная коррекция; метод фундаментальных параметров (ФП); метод фоновых ФП; анализ тонких плёнок методом ФП

Методика построения калибровочных кривых

Строится кривая, отображающая зависимость между содержанием элемента в стандартном образце и его измеренной интенсивностью (калибровочная кривая), затем находится содержание элемента в неизвестном образце.

Методика фундаментальных параметров

Используя теоретически рассчитанные интенсивности флуоресцентного излучения, определяются содержания в образце по фактически измеренным интенсивностям.

Этот метод может быть применён

• без использования стандартного образца,
• с использованием стандартного образца.