Уважаемые коллеги!
С 05.03.16 по 08.03.16 в Главном здании СПбГУ произошла авария, в результате чего с 09.03.2016 и до устранения последствий недоступно для использования оборудование электронно-микроскопического блока, размещенное в помещениях 9Н (ключ 71 - бывший книжный магазин), в том числе:
- Электронный микроскоп Jeol JEM-1400,
- Электронный микроскоп Jeol JEM-2100,
- Вакуумная напылительная станция Jeol JEE-420D,
- Ультратомы Leica EM UC7,
- Устройство для очистки образцов и держателей от углеводородных загрязнений Jeol JIC-410 ,
- Устройство для придания поверхностям углеродных плёнок и алмазных ножей гидрофильности Jeol HDT-400,
- Сканирующий электронный микроскоп Tescan MIRA3,
- Настольный сканирующий электронный микроскоп Jeol JCM-5000 Neoscope,
- Автоматизированная станция для контрастирования ультратонких срезов Leica EM AC20,
- Устройство для сушки образцов методом перехода через критическую точку углекислого газа Leica EM CPD300,
- Устройство для замораживания-скалывания, травления, нанесения проводящих покрытий Leica EM BAF-060 + Leica EM VCT-100,
- Рутинное оборудование для пробоподготвки к электронной микроскопии.
Приносим извинения за неудобства!