Энергодисперсионный рентгенофлуоресцентный спектрометр EDX-8100P на базе кремниевых дрейфовых детекторов с термоэлектрическим охлаждением, обеспечивает прекрасную чувствительность и разрешение и может применяться для различных исследований, от экологического контроля и исследования материалов до анализов, требующих прецизионных высокочувствительных измерений.

 EDX 8100P позволяет проводить измерение содержания элементов от C до U в атмосфере гелия, либо в условиях вакуума (остаточное давление воздуха менее 20 Па), это позволяет добиться низких пределов обнаружения для лёгких элементов и определять их в жидких, легколетучих образцах.
 Пределы обнаружения для каждого элемента существенно зависят от состава пробы, агрегатного состояния, для некоторых элементов предел обнаружения в реальных образцах составляет не более 0,1ppm.
 Наш прибор позволяет проводить измерения как с расчётом методом фундаментальных параметров (не требует стандартных образцов для построения градуировочной зависимости), так и по методу абсолютной градуировки. Возможность использования 5 различных встроенных фильтров излучения позволяет во многих случаях добиться исключения мешающего влияния линий основного компонента/матрицы, тем самым понизив предел обнаружения интересующего нас элемента.
 Мы можем проводить анализ микроколичеств образца (порядка 10 мг), однако в этом случае пределы обнаружения будут высокими. Прибор оснащен видеокамерой ячейки образца, таким образом, мы можем проводить анализ вкраплений (минимальный диаметр пучка излучения 1 мм).
 Оптимальными условиями являются: для жидкостей - объём 10 мл, для природных оксидных систем - 10 г. Для металлических образцов – таблетки диаметром 3 см и толщиной не менее 1 мм. Толщину слоя таких образцов достаточная для получения максимально возможного аналитического сигнала.

 Особенности проведения рентгеновского спектрального анализа:
  1. Метод превосходно работает для определения состава сплавов. Ни один другой метод в РЦ МАСВ не обеспечивает сопоставимую точность определения состава сплавов.
  2. Дисперсность образца (шероховатость поверхности) имеет большое значение – для проведения ответственных измерений образец должен быть измельчён до аналитической пудры, твёрдый образец зашлифован до плоской ровной поверхности.
  3. Метод фундаментальных параметров не обеспечивает высокую точность измерений, но при этом не требует стандартных образцов и хорошо подходит для сравнения родственных образцов между собой.
  4. При наличии образцов с известным содержанием интересующих элементов (или возможности их приготовления) предпочтительно построение градуировочной зависимости, при этом принципиально важно, чтобы основа образца (матрица) была такой же или очень близкой к анализируемому образцы. Всегда обсуждайте этот момент со специалистом.
  5. Информация о потерях при прокаливании образцов даёт существенное увеличение точности.
  6. Для грубого картирования образца лучше использовать XRF-1800.