Волнодисперсионный рентгенфлуоресцентный спектрометр XRF-1800

Спектрометр XRF-1800 позволяет проводить качественный и количественный анализ элементного состава образца в диапазоне от бериллия Be4 по уран U92 всего за 2.5 минуты. Максимальные размеры исследуемого образца – 51 мм в диаметре и  38 мм в высоту. Анализ может проводиться на воздухе, в вакууме или среде гелия (для определения лёгких элементов). Кроме стандартного анализа элементного состава возможно также проведение картирования распределения элементов с шагом 250 мкм и локального анализа в точке Ø 500 мкм с помощью микроколлиматоров и встроенной цифровой камеры.

Программное обеспечение спектрометра позволяет проводить качественный и количественный анализ с применением линий высших порядков. Кроме того, существует возможность определения толщины и элементного состава плёнок органической природы методом фундаментальных параметров с использованием линий Комптоновского рассеяния, а также определения толщины и элементного состава неорганических покрытий.

Определение элементного состава проводится методом волнодисперсионного рентгенофлуоресцентного анализа. Суть метода заключается в облучении исследуемого образца рентгеновским излучением с последующей расшифровкой спектра флуоресцентного излучения, испускаемого возбуждёнными атомами образца. При этом, в отличие от энергодисперсионного метода, анализируется излучение с определённой длиной волны.

Спецификация прибора

Возможности программного обеспечения

Метод построения калибровочных кривых 

Строится кривая, отображающая зависимость между содержанием элемента в стандартном образце и его измеренной интенсивностью (калибровочная кривая), затем находится содержание элемента в неизвестном образце.

Метод фундаментальных параметров

Используя теоретически рассчитанные интенсивности флуоресцентного излучения, определяются содержания в образце по фактически измеренным интенсивностям.

Этот метод может быть применён:

•  • без использования стандартного образца,
•  • с использованием стандартного образца.

Метод фоновых ФП

Метод фоновых фундаментальных параметров представляет собой метод условных фундаментальных параметров, в котором  определяется только флуоресцентное излучение (чистый пик) за счет интенсивности рассеяния (фона).

Картирующий  анализ

Определяется плотность распределения элементов в различных точках образца.

Коррекция при количественном анализе

      • Коррекция фона.

Замеряемый  спектр  рентгеновского  излучения  состоит  из рентгеновской  флуоресценции  и  рассеивания  (фона).  Поскольку  для определения  используется  интенсивность  рентгеновской  флуоресценции,  то она  определяется  методом  вычитания  фона  из  замеряемого  спектра излучения.

      • Коррекция холостой пробы.

При  коррекции  холостой  пробы  записываются  данные  анализа холостого  образца  и  в  дальнейшем  результаты  определения интенсивности холостого  образцы  вычитаются  из  результатов определения  неизвестного образца.

      • Коррекция дрейфа.

Со  временем  интенсивность  рентгеновского  излучения  претерпевает небольшие  изменения  вследствие  колебаний  температуры  или  некоторых вариаций  в  состоянии  детектора.  Для  решения  этой  проблемы проводится калибровка  стандартной  интенсивности  с  использованием стандартного образца.

      • Коррекция наложения спектров.

Поскольку образец и матрица располагаются близко друг от друга, то их рентгеновские спектры могут перекрываться. Чтобы вычислить необходимую интенсивность измеряют образец без исследуемого элемента.

      • Поправка по внутреннему стандарту.

Функция  поправки  по  внутреннему  стандарту  заключается в определении  соотношения  интенсивности  рентгеновского  излучения элемента стандарта к элементу в том же образце.

      • Поправка по эталонному графику.

С  помощью  поправки  по  эталонному графику количественные  величины,  полученные  для  неизвестного образца, исправляются так, чтобы они попали в установленные диапазоны. В качестве установленных величин в данном методе используются диапазоны и коэффициенты поправки стандартного образца, очень близкого по составу к неизвестному  образцу.

Области применения

• • Исследование новых соединений и материалов
• • Экология и охрана окружающей среды – определение тяжелых металлов в почвах, осадках, воде, аэрозолях и др.
• • Геология и минералогия – качественный и количественный анализ почв, минералов, горных пород и др.
• • Металлургия и химическая индустрия – контроль качества сырья, производственного процесса и готовой продукции.
• • Лакокрасочная промышленность – анализ свинцовых красок.
• • Ювелирная промышленность – измерение концентраций ценных металлов.
• • Нефтяная промышленность – определение загрязнений нефти и топлива.
• • Пищевая промышленность – определение токсичных металлов в пищевых ингредиентах.
• • Сельское хозяйство – анализ микроэлементов в почвах и сельскохозяйственных продуктах.
• • Археология – элементный анализ археологических находок.