• Главная
    • Что такое Научный парк
    • Как выполнить работу в Научном парке
    • Служебное жилье
    • Нормативные документы
      • Согласие на обработку персональных данных
  • Новости
    • Архив мероприятий
      • Конференция Научного парка 2014
      • Конференция Научного парка 2015
      • Семинар Биобанка 2016
      • Конференция Современные методы термического анализа
  • Научный парк
    • Центры
    • Нормативные документы
    • Оборудование
      • Исследовательские стенды
      • Обновление приборной базы
      • Загрузка оборудования
      • Вычислительные ресурсы
        • Программное обеспечение
        • Вычислительные ресурсы
      • Оборудование вузов - членов АВУ
    • Методики
      • Исследовательские методики
      • Аттестованные методики
    • Перечень услуг
    • Обучение
    • Дополнительное образование
    • Работа с музеями
  • Работа Научного парка
    • Публикации
    • Статистика по публикациям
    • Отзывы
    • Текущие проекты
    • Статистика
    • Загрузка оборудования
  • Информация
    • Новости
      • Архив мероприятий
        • Конференция Научного парка 2014
        • Конференция Научного парка 2015
        • Конференция Современные методы термического анализа
        • Семинар Биобанка 2016
    • Презентация Научного парка
    • Партнеры
    • Недобросовестные партнеры
    • Система приема заявок
    • СМИ о нас
    • Печатные материалы
    • Виртуальные экскурсии
    • Видеоматериалы
  • Контакты
    • Дирекция Научного парка
    • Директора ресурсных центров
    • Служба поддержки
    • Заявки
      • Заявка на измерения для внешних пользователей
      • Заявка на стажировку
      • Заявка на ознакомительную экскурсию
                 

Методики

  1. Методика очистки поверхности монокристаллов тугоплавких и переходных металлов до атомарной чистоты при выполнении НИР
  2. Методика перманентного напыления различных металлов с непрерывным контролем толщин напыляемых слоев при выполнении НИР
  3. Методика измерения дисперсии энергетических зон и структуры заполненных и незаполненных состояний по фотоэлектронным спектрам с высоким угловым и энергетическим разрешением при выполнении НИР
  4. Методика тестирования кристаллической структуры поверхностей монокристаллов и их ориентации для исследования методом фотоэлектронной спектроскопии с угловым разрешением по высокоразрешенным деталям картин ДМЭ при выполнении НИР
  5. Атомно-силовая микроскопия
  6. Растровая электронная микроскопия и электронно-зондовый микроанализ
  7. Лазерная сканирующая конфокальная микроскопия
  8. Спектральные рабочие диапазоны лазеров
  9. Электронная микроскопия
  10. Ионная микроскопия
  11. Масс-спектрометрия вторичных ионов с использованием сфокусированных пучков ионов галлия
  12. Измерение эффекта Холла методом Ван-дер-Пау
  13. Ионная литография
  14. Электронная литография
  15. Фотолитография
  16. Плазменное травление
  17. Плазменная очистка
  18. Вакуумное термическое испарение
  19. Молекулярно-пучковая эпитаксия
  20. Спектроскопия отражения
  21. Спектроскопия фотолюминесценции
  22. Сверхбыстрая спектроскопия когерентного отклика
  23. Атомно-силовая микроскопия
  24. Микроволновой синтез
  25. Ультразвуковой химический синтез
  26. Гидротермальный метод
  27. Дип-коутинг
  28. Спин-коутинг
  29. Спектроскопия спиновых шумов
  30. Порошковая нейтронная дифракция
  31. Исследование кристаллической структуры и атомных колебаний нейтронографическими методами
  32. Исследования магнитного упорядочения методами дифракции нейтронов на монокристаллах
  33. Малоугловое и ультра малоугловое рассеяния нейтронов
  34. Малоугловое рассеяние поляризованных нейтронов (МУРПН)
  35. Нейтронная рефлектометрия
  36. Методика подготовки библиотек ДНК для секвенирования на Illumina HiSeq 2500 набором Nextera DNA Library Preparation Kit
  37. Методика использования прибора QIAcxel Advanced
  38. Методика использования прибора Quantus™ Fluorometer для ДНК
  39. Методика использования прибора Quantus™ Fluorometer для РНК
  40. Методика использования спектрофотометра Implen NanoPhotometer P360
  41. Методика использования прибора KRYO 560-16
  42. Методика постановки полимеразной цепной реакции в режиме реального времени на приборе Applied Biosystems 7500 Real Time PCR fast (анализ однонуклеотидных замен)
  43. Методика постановки полимеразной цепной реакции в режиме реального времени на приборе Applied Biosystems 7500 Real Time PCR fast (количественный анализ)
  44. Методика постановки полимеразной цепной реакции в режиме реального времени на приборе Applied Biosystems 7500 Real Time PCR fast (анализ экспрессии генов)
  45. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия (РФЭС) и микроскопия (элементное картирование) с пространственным разрешением
  46. Ультрафиолетовая фотоэлектронная спектроскопия (УФЭС) валентной зоны с угловым и спиновым разрешением
  47. Дифракция медленных электронов
  48. Оже-электронная спектроскопия и микроскопия с пространственным разрешением
  49. Сканирующая электронная микроскопия
  50. Спектроскопия ионного рассеяния
  51. Спектроскопия характеристических потерь энергии электронов
  52. Сканирующая туннельная микроскопия (СТМ) и сканирующая туннельная спектроскопия (СТС)
  53. Атомно-силовая микроскопия (АСМ) (контактный и бесконтактный режимы)
  54. Времяпролётная масс-спектрометрия с рефлектроном
  55. Термодесорбционная спектроскопия
  56. Оптическая спектроскопия (в диапазоне длин волн от вакуумного ультрафиолета до инфракрасной области)
  57. Лазерная сканирующая конфокальная микроскопия
  58. Световая и флуоресцентная микроскопия высокого разрешения
  59. Методы электронной микроскопии
  60. Методы молекулярной и клеточной биологии для пробоподготовки
  61. Методы программной обработки графических изображений результатов микроскопии
  62. Вычисления в среде COMSOL LiveLink™ for MATLAB
  63. Вычисления в Linux среде с графическим интерфейсом
  64. Вычисления в среде ANSYS и Materials Studio
  65. Вычисления в среде Materials Studio, Gaussian, GaussView, Crystal
  66. Вычисления в среде MATLAB, Wolfram Mathematica, Maple, Comsol
  67. Вычислительная среда на базе Windows для химического моделирования
  68. Вычисления в универсальной среде Linux с графическим интерфейсом
  69. Вычислительная среда на базе Windows для мультифизического моделирования
  70. Вычислительная среда на базе Windows для математического моделирования
  71. Платформа на базе Windows для разработки программного обеспечения
  72. Методическое руководство М-К4-SM27 Работа с регистратором в полевых условиях
  73. Методическое руководство М-К5-SМ25 Работа с регистратором в полевых условиях
  74. Методика определения содержания фосфатов в почве.
  75. Метод инфракрасной спектроскопии
  76. Метод Рамановской спектроскопии
  77. Метод цифровой трассерной визуализации – PIV метод
  78. Атомная спектроскопия
  79. Молекулярная спектроскопия
  80. Хроматографические методы анализа
  81. Электрохимические методы анализа
  82. Потенциостат P-30(I, SM)
  83. Вольтамперометрический анализатор 797 VA Computrace
  84. Кулонометрический титратор 831 KF Coulometer
  85. Анализатор вольтамперометрический TA Lab
  86. Культивирование инфузорий рода Paramecium
  87. Культивирование различных гетеротрофных протистов
  88. Культивирование крупных лобозных амеб ("proteus-like")
  89. Культивирование микроскопических зеленых водорослей и цианобактерий коллекции CALU
  90. Методика выведения клонов парамеций из природных популяций
  91. Методика обогащающего культивирования и выделения клонов голых лобозных амеб из природных водных сообществ (качественные пробы)
  92. Методика тестирования бактерицидной и бактериостатической активности различных веществ
  93. Методика инфекции инфузорий рода Paramecium бактериями рода Holospora
  94. Методики светомикроскопических исследований для изучения микроорганизмов
  95. Методики молекулярно-биологических исследований
  96. Приготовление тотальных препаратов
  97. Фиксация образцов для электронной микроскопии
  98. Растровая электронная микроскопия (РЭМ)
  99. Просвечивающая электронная микроскопия (ПЭМ)
  100. Фокусируемые ионные пучки (ФИП)

Выберите язык

  • Russian
  • English (UK)
  • Что такое Научный парк
  • Центры
  • Оборудование
    • Исследовательские стенды
    • Загрузка оборудования
  • Методики
    • Исследовательские методики
    • Аттестованные методики
  • Обучение
  • Перечень услуг
  • Дополнительное образование
  • Печатные материалы
  • Центр экспертиз СПбГУ
  • Работа с музеями
© 2025 Научный парк СПбГУ
Служба поддержки: esrc-support@spbu.ru

На данном информационном ресурсе могут быть опубликованы архивные материалы с упоминанием физических и юридических лиц, включенных Министерством юстиции Российской Федерации в реестр иностранных агентов.