Дополнительная профессиональная образовательная программа

повышения квалификации

«Использование двулучевых станций сфокусированный ионный пучок  -сканирующий электронный микроскоп для проведения исследований в области нанотехнологий и материаловедения»

 

Ближайшие даты обучения: 15 – 26 апреля 2019 г.

 

Регистрационный номер учебного плана: 18/2223/1.

Объем курса: 144 академических часа, из них 74 часа контактной работы.

Длительность обучения: 10 рабочих дней (с отрывом от работы).

Стоимость обучения на 2018/2019 учебный год: 70000 руб.

Языки обучения: русский или английский. 

Руководитель: к.ф-м..н. Петров Юрий Владимирович, доцент кафедры электроники твердого тела СПбГУ, тел. 428-44-77,  Этот адрес электронной почты защищён от спам-ботов. У вас должен быть включен JavaScript для просмотра. 

Курс направлен на обучение теоретическим основам и получение практических навыков для проведения исследований в области материаловедения и нанотехнологий с использованием двулучевой станции «сфокусированный ионным пучок - сканирующий электронный микроскоп» (ФИП-СЭМ).

Задачами курса являются:

- ознакомить слушателей с основными принципами работы двулучевой станции ФИП-СЭМ, устройством электронной и ионной колонн и системы основных детекторов;

- обучить слушателей базовым навыкам работы на  двулучевой станции ФИП-СЭМ с использованием различных детекторов;

- сформировать у слушателей навыки планирования эксперимента с использованием двулучевой станции ФИП-СЭМ с учетом особенностей образцов и задач исследования, а также навыки интерпретации полученных в ходе эксперимента результатов. 

В результате обучения слушатели будут:

- знать основные принципы устройства двулучевых станций ФИП-СЭМ, основные механизмы взаимодействия пучков электронов и ионов с поверхностью твердых тел, устройство и принцип работы различных детектор, устанавливаемых на ФИП-СЭМ, знать основы кристаллографии и теории дифракции электронов

- уметь проводить пробоподготовку образцов к исследованиям с использованием ФИП-СЭМ, настраивать и фокусиовать двулучевую станцию ФИП-СЭМ, получать увеличенные изображения микро- и нано-объектов и проводить элементный и ихмический микроанализ с использованием детекторов рентгеновской флюоресценции и вторичных ионов;

- знать возможности и ограничений методов генной инженерии при решении разнообразных задач;

- обладать навыками планирования, организации и проведения эксперимента с использованием двулучевых станций ФИП-СЭМ. 

По завершении обучения выдается Удостоверение о повышении квалификации объемом 144 часа. 

Программу курса Вы можете скачать здесь.

Место проведения занятий: СПб, Петергоф, Ульяновская улица, д. 1., «НИИ Физики» – Ресурсный центр «Междисциплинарный ресурсный центр по направлению «Нанотехнологии» Научного парка СПбГУ.