Метод зондовой микроскопии, основанный на Ван-дер-Ваальсовском взаимодействии кантилевера с поверхностью образца, позволяющий исследовать микрорельеф поверхности с субнанометровой точностью, а также её магнитные и электрофизические свойства с латеральным разрешением до нескольких десятков нанометров.
