Система SuperNova представляет новейшее поколение систем с двумя фиксированными значениями длины волны, в ней использованы все достижения системы Gemini компании Agilent Technologies двумя различными источниками рентгеновского излучения. Система предназначена для прецизионного исследования монокристаллов с большими ячейками, в том числе, биологических макромолекулярных структур.
Основные технические характеристики
- • Материалы анода: микрофокусные источники излучения – MoKα, CuKα.
- • Номинальный режим работы источников рентгеновского излучения – 40 кВ/1.5 мА.
- • Детектор отраженных рентгеновских лучей – двумерный высокоскоростной CCD.
- • Многослойная рентгеновская оптика для повышения интенсивности и выполняющая функции монохроматора (выделяет из общего спектра источника дуплет линий К(альфа1)/К(альфа2)).
- • Геометрия съемки – 4-х кружный KAPPA гониометр с изменяемым углом вращения кристалла вокруг оси гониометрической головки (CHI):
- - диапазон изменения угла 2ϴ – от -180° до +215°;
- - свободное вращение по углу омега;
- - шаг измерений по осям 2ϴ и Ω – не более 0.00125°;
- - разрешение на молибденовом излучении – не более 0.40 Å в диапазоне от 130° до 135° по 2θ.
- • Низкотемпературная система Oxford Cryosystems Cryostream с температурным диапазоном 80-500 K.
- • Видео-микроскоп, закрепленный непосредственно на гониометре и оснащенный средствами измерения геометрических размеров анализируемых образцов с точностью 10 мкм.
Программное обеспечение
Специализированный пакет программ CRYSALISpro позволяет выполнять автоматический поиск дифракционных пиков с заданными параметрами, автоматически определять и уточнять параметры элементарной ячейки, проводить интегрирование массива дифракционных данных, проводить анализ и обработку данных диффузного рассеяния, учет поглощения по реальной форме кристалла, численный учет поглощения, шкалирование и учет поглощения на основании данных по интенсивности симметрично-связанных отражений, измеренных при различных ориентациях кристалла; расчет геометрических характеристик объектов (площадь, периметр, фактор формы, ориентация, длина, ширина).
Информация от производителя оборудования:
Размещение:
Петродворцовый учебно-научный комплекс СПбГУ.