Спектрометр XRF-1800 позволяет проводить качественный и количественный анализ элементного состава образца в диапазоне от бериллия Be4 по уран U92 всего за 2.5 минуты. Максимальные размеры исследуемого образца – 51 мм в диаметре и  38 мм в высоту. Анализ может проводиться на воздухе, в вакууме или среде гелия (для определения лёгких элементов). Кроме стандартного анализа элементного состава возможно также проведение картирования распределения элементов с шагом 250 мкм и локального анализа в точке Ø 500 мкм с помощью микроколлиматоров и встроенной цифровой камеры.

 

Двух лучевой спектрофотометр UV-3600 предназначен для регистрации спектров поглощения, пропускания и отражения различных образцов в широкой спектральной области 185-3300 нм.

В спектрофотометре UV-3600 впервые в мире используются три детектора: ФЭУ и полу-проводниковые на InGaAs и PbS. Высокая чувствительность схемы измерения и крайне низкий уровень рассеянного света позволяют решать новые технологические задачи. 

Принцип работы прибора основывается на методе Дюма-Прегля. Сжигание проб осуществляется в токе чистого кислорода с последующим восстановлением окислов азота и разделением газообразных продуктов окисления на хроматографической колонке с детектированием по теплопроводности. Определение содержания элементов осуществляется на основе содержания в продуктах сгорания СО2, H2O, N2. Прибор имеет конструктивную возможность дооснащения приставками и набором расходуемых материалов для определения кислорода и серы, путем анализа продуктов восстановления в атмосфере гелия.

Спектрометр EDX-800P предназначен для быстрого неразрушающего определения качественного и количественного элементного состава (от C6 до U92) твёрдых и жидких образцов, порошков, гранул, пластин, плёнок. Большая камера позволяет проводить измерения образцов диаметром до 300 мм и высотой до 150 мм. Анализ может проводиться на воздухе, в вакууме или среде гелия (для определения лёгких элементов в жидкостях). Пять типов первичных фильтров дают возможность снизить влияние фона и значительно улучшить пределы обнаружения элементов в образцах различной природы.