Дифрактометр высокого разрешения предназначен для решения широкого круга задач рентгеновской дифракции при изучении, как поликристаллов, так и монокристаллов; как микроскопических, так и полноразмерных промышленных образцов. Он обладает модульной архитектурой и способен функционировать в широком диапазоне различных конфигураций с быстрым переключением между ними, что делает его весьма универсальным инструментом для материаловедения. Bruker D8 Discover идеально подходит для применений в области нанотехнологий. Благодаря ультрасовременной и весьма совершенной оптической системе он позволяет получать подробную и точную информацию о структуре аморфных, моно- и поликристаллических тонких пленок толщиной всего несколько нанометров, изучать структуру поверхности и прослеживать структурные изменения вглубь образца, проводить неразрушающий контроль качества (совершенства) массивных промышленных монокристаллов для электроники и оптики, а также обнаруживать дефекты в наноразмерных кристаллах катализаторов.
Основные технические характеристики
- • Материалы анода – длиннофокусная рентгеновская трубка CuKα.
- • Горизонтальный гониометр с независимыми осями и возможностью измерения в геометрии Theta-2Theta, допустимый диаметр измерительного круга гониометра – от 500 мм, до 1050 мм.
- • Гониометр имеет систему позиционирования образца с точностью 50 мкм при помощи лазера и микроскопа с выводом изображения образца на монитор рабочей станции.
- • Возможность перемещения образца по осям Х и Y (в пределах ±75 мм), изменения глубины образца Z (в пределах 10 мм), изменения угла между плоскостью образца и плоскостью гониометра Chi от -10° до 95°.
- • Диапазон углов сканирования 2θ – от -110° до 165°.
- • Минимальный шаг сканирования – 0.0001°.
- • Детектор отраженных рентгеновских лучей – твердотельный позиционно-чувствительный детектор LYNXEYE:
- - количество каналов регистрации – 190;
- - эффективность регистрации рентгеновского Cu-K(aльфа)-излучения – не менее 98%;
- - пространственное разрешение детектора – 75 мкм.
- • Оптическая система:
- - монохроматизация первичного пучка при помощи 4-х кратного германиевого монохроматора (плоскость 022) c симметричным отражением, с шириной на полувысоте отражения от плоскости 111 кремния Si не более 0.0035°;
- - возможность измерений в геометрии параллельного пучка, создаваемого при помощи многослойной градиентной оптики (параболического зеркала) с расходимостью не более 0.03°;
- - встроенная автоматизированная вторичная оптика: переменные моторизованные щели, щель Соллера и трехкратный кристалл-анализатор (монокристалл германия ориентации (022)).
Программное обеспечение
Пакет программ DIFFRAC.SUITE – предоставляет широкие возможности автоматизированной предварительной обработки дифракционных данных, полученных на дифрактометре, проведения качественного и количественного фазового анализа, а также анализ результатов рефлектометрии; обработку результатов измерений дифрактометрии высокого разрешения; обработку данных скользящего падения малоуглового рентгеновского рассеяния (по типу GISAXS); редактор модели структуры, позволяющий создавать модели сверхрешетки и слои со связанными параметрами; моделирование диффузного рассеяния от шероховатости границ (для компланарной рентгеновской рефлектометрии) и наночастиц различных форм (для GISAXS). Программное обеспечение TOPAS является мощным средством проведения полнопрофильного анализа методом Ритвельда, позволяющим уточнять структуры известных веществ и расшифровывать структуры новых соединений и минералов по порошковым данным.
Информация от производителя оборудования:
- http://www.bruker.com/products/x-ray-diffraction-and-elemental-analysis/x-ray-diffraction/d8-discover/overview.html
- http://www.bruker.com/fileadmin/user_upload/8-PDF-Docs/X-rayDiffraction_ElementalAnalysis/XRD/LabReports/XRD_68_Non-Coplanar_or__In-Plane__GID_DOC-L88-EXS068_low.pdf
- http://www.bruker.com/fileadmin/user_upload/8-PDF-Docs/X-rayDiffraction_ElementalAnalysis/XRD/Posters/D8_DISCOVER_A25_DOC-P88-EXS074_low.pdf
Размещение:
Петродворцовый учебно-научный комплекс СПбГУ.
