Исследовательский комплекс Bruker "D8 DISCOVER"

Основные технические характеристики

• Материалы анода – длиннофокусная рентгеновская трубка CuKα.
• Горизонтальный гониометр с независимыми осями и возможностью измерения в геометрии Theta-2Theta, допустимый диаметр измерительного круга гониометра – от 500 мм, до 1050 мм.
• Гониометр имеет систему позиционирования образца с точностью 50 мкм при помощи лазера и микроскопа с выводом изображения образца на монитор рабочей станции.
• Возможность перемещения образца по осям Х и Y (в пределах ±75 мм), изменения глубины образца Z (в пределах 10 мм), изменения угла между плоскостью образца и плоскостью гониометра Chi от -10° до 95°.
• Диапазон углов сканирования 2θ – от -110° до 165°.
• Минимальный шаг сканирования – 0.0001°.
• Детектор отраженных рентгеновских лучей – твердотельный позиционно-чувствительный детектор LYNXEYE:
- количество каналов регистрации – 190;
- эффективность регистрации рентгеновского Cu-K(aльфа)-излучения – не менее 98%;
- пространственное разрешение детектора – 75 мкм.
• Оптическая система:
- монохроматизация первичного пучка при помощи 4-х кратного германиевого монохроматора (плоскость 022) c симметричным отражением, с шириной на полувысоте отражения от плоскости 111 кремния Si не более 0.0035°;
- возможность измерений в геометрии параллельного пучка, создаваемого при помощи многослойной градиентной оптики (параболического зеркала) с расходимостью не более 0.03°;
- встроенная автоматизированная вторичная оптика: переменные моторизованные щели, щель Соллера и трехкратный кристалл-анализатор (монокристалл германия ориентации (022)).

Программное обеспечение

Пакет программ DIFFRAC.SUITE – предоставляет широкие возможности автоматизированной предварительной обработки дифракционных данных, полученных на дифрактометре, проведения качественного и количественного фазового анализа, а также анализ результатов рефлектометрии; обработку результатов измерений дифрактометрии высокого разрешения; обработку данных скользящего падения малоуглового рентгеновского рассеяния (по типу GISAXS); редактор модели структуры, позволяющий создавать модели сверхрешетки и слои со связанными параметрами; моделирование диффузного рассеяния от шероховатости границ (для компланарной рентгеновской рефлектометрии) и наночастиц различных форм (для GISAXS). Программное обеспечение TOPAS является мощным средством проведения полнопрофильного анализа методом Ритвельда, позволяющим уточнять структуры известных веществ и расшифровывать структуры новых соединений и минералов по порошковым данным.

Информация от производителя оборудования:

Размещение:

Петродворцовый учебно-научный комплекс СПбГУ.