На сканирующем электронном микроскопе Supra 40VP успешно завершена установка нового детектора для работы в режиме растровой просвечивающей микроскопии (STEM).

Зарегистрированные пользователи МРЦ-НТ могут получить дистрибутив бесплатной программы для обработки изображений с растровых электронных микроскопов Carl Zeiss SmartTIF.

Программа позволяет проводить измерения на изображениях, добавлять аннотации, строить профили контраста и пр.

За дистрибутивом обращайтесь в МРЦ.

Внимание! Открыт форум Междисциплинарного Ресурсного Центра по направлению Нанотехнологии. Для участия в форуме необходимо пройти процедуру регистрации на нашем сайте

Международная научная конференция "Приоритетные направления научных исследований нанообъектов искусственного и природного происхождения" STRANN-2009 завершилась.
 
За два дня в работе конференции приняли участие 98 человек из 12 российских и 5 зарубежных научных центров.
Было представлено 25 докладов по различным направлениям исследований.

Фотоотчет о конференции

Завершена регистрация участников международной конференции STRANN-2009. Пожалуйста, обращайтесь по всем возникающим вопросам в оргкомитет конференции Этот адрес электронной почты защищён от спам-ботов. У вас должен быть включен JavaScript для просмотра. .