nanolab 1

Научно-исследовательская платформа Нанолаб, состоит из следующих взаимосвязанных сверхвысоковакуумных модулей:

 

1. аналитический модуль фотоэлектронной спектроскопии

Модуль ультрафиолетовой и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии используется для аналитической диагностики электронной энергетической и спиновой структуры синтезируемых наносистем с одновременной экпресс-корректировкой деталей технологического воздействия.

 Включает:

- сверхвысоковакуумную камеру с полусферическим энергоанализатором VG Scienta R4000 с микроканальным детектором и 3D спиновым детектором Мотта, с шестиосевым моторизированным манипулятором с возможностью охлаждения жидким гелием, с узкополосным высокоинтенсивным источником ультрафиолетового излучения VUV  5k c выдвижным капилляром, с монохроматизированным рентгеновским источником MX 650;

- сверхвысоковакуумную камеру для подготовки образцов, укомплектованную оборудованием для нанесения тонких пленок и ионного профилирования образцов, дифрактометром медленных электронов OCI BDL800IR c оптикой для оже-электронной спектроскопии.

Аналитическая камера Нанолаб

Преимущества модуля фотоэлектронной спектроскопии:

- давление в аналитической камере при измерениях не выше, чем 1-2•10-10 мбар,

- высокое энергетическое (<1.8 мэВ) и угловое (<0.1°) разрешение анализатора,

- 6-осевой манипулятор Prevac с охлаждением образца до 30 К,

- станция кратковременного нагрева до температуры ~2300 К для получения атомной чистоты поверхности монокристаллов тугоплавких металлов,

- формирования образцов “in situ” методам локальной молекулярной и атомной эпитаксии с контролем толщины слоев до долей монослоя, молекулярного наслаивания и химической сборки.

Дополнительно:

ссылка на сайт производителей PREVAC sp. z o.o. и VG Scienta

2. аналитический модуль зондовой микроскопии

Модуль сверхвысоковакуумного сканирующего туннельного и атомно-силового микроскопа с системой визуализации технологических операций предназначен для мониторинга результатов проведённых нанотехнологических операций, изучения структуры нанообъектов с атомарным разрешением. 

Данная научно-исследовательская платформа позволяет решать нанодиагностические задачи и задачи синтеза нанообъектов с детализацией процессов на атомарном уровне и анализа тонких особенностей электронной энергетической и спиновой структуры нанообъектов, способствующих созданию прорывных технологий и проведению научных исследований в самых современных и актуальных направлениях наноэлектроники (включая графеновую) и спинтроники.

Включает:

- сверхвысоковакуумную камеру со сканирующим зондовым микроскопом Omicron VT AFM XA 50/500, позволяющим исследовать структуру поверхности с атомарным разрешением в широком диапазоне температур;

- сверхвысоковакуумную камеру для подготовки образцов с оборудованием для нанесения тонких пленок и контроля их параметров методами дифракции медленных электронов и оже-спектроскопии.

Сканирующий зондовый микроскоп  Omicron VT AFM  XA 50/500

 Преимущества модуля зондовой микроскопии:

- сканирование поверхности образцов с атомным разрешением в условиях сверхвысокого вакуума (1-2•10-10 мбар),

- сканирование при температурах образца в диапазоне от 50 до 500 К,

- режимы сканирующего туннельного микроскопа и атомно-силового микроскопа (контактный и бесконтактный режимы),

- возможность осаждения различных веществ на поверхность образца в процессе эксперимента при нахождении образца на столике микроскопа

- возможность приготовления вольфрамовых игл “in situ” методом электронной бомбардировки,

- формирование образцов “in situ” методами локальной молекулярной и атомной эпитаксии с контролем толщины слоев до долей монослоя, молекулярного наслаивания и химической сборки.

Дополнительно:

ссылка на сайт производителя Omicron NanoTechnology GmbH