Экспресс рамановский спектрометр SENTERRA (Bruker)

senterra 1

Представленный спектрометр позволяет проводить экспрессные и рутинные измерения спектров комбинационного рассеяния. Комплекс имеет возможность проводить измерения жидких веществ и твердых образцов: стеклообразных, кристаллических, органических и неорганических веществ в форме порошков, тонких пленок, возможна работа с микроколичествами веществ. Комплекс имеет систему оптической визуализации образцов Olimpus. Спектрометр оснащен тремя лазерами с длинами волн 488, 532, 785 нм и оптоволоконным датчиком для регистрации спектров образцов во внешнем кюветном отделении.

Основные характеристики

  • - Спектрометр размещается на платформе конфокального оптического микроскопа, имеет I класс защиты от лазерного излучения.
  • - Спектральный диапазон регистрации спектров КР  80-4500 см-1.
  • - Спектральное разрешение  лучше 3 см-1.
  • - Калибровка по длине волны  непрерывная, в течение всего процесса регистрации спектра.
  • - Длины волн возбуждающих лазеров (в скобках указана максимальная мощность): 532 нм (20 мВт), 785 нм (100 мВт), 488 нм (20 мВт).
  • - Детектор  высокочувствительный ССD детектор с Пельте охлаждением до -70оС.
  • - 2 дифракционные решетки – 400 штрихов/мм и 1200 штрихов/мм.
  • - Поляризатор для проведения измерений в поляризованном свете.
  • - Оптоволоконный датчик для регистрации спектров образцов во внешнем кюветном отделении.

senterra 2

 

Характеристики конфокального микроскопа с устройством визуализации исследуемого объекта

  • - Пространственное разрешение  от 1 мкм.
  • - Конфокальная оптика с гибридной диафрагмой, управляемой компьютером.
  • - Апертура  комбинированная с щелевыми отверстиями апертуры для высокой светосилы и круглыми для конфокальных измерений.
  • - Конфокальное разрешение  2 мкм.
  • - Цветная CCD камера для визуализации точки съемки, разрешение – 1.3 Мпикселя.
  • - Тринокулярная насадка под оптические объективы различной кратности:
  •              - 20x (рабочее расстояние: 1.3 mm),
  •              - 50x (рабочее расстояние: 0.38 mm),
  •              - 4х, 10x, 50х (длиннофокусный),
  •              - 100x (рабочее расстояние: 0.9 мм).
  • - Предметный столик: автоматизированный, управление при помощи джойстика и ПО, диапазон перемещения  75 мм x 50 мм, точность перемещения  0.1 мкм.

senterra 3

Характеристики программного обеспечения

Комплект программного обеспечения для управления КР спектрометром позволяет производить диагностику работоспособности оптической системы, регистрацию спектров, обработку данных измерений со специальными пакетами программ:

  • - Идентификация с функцией оптимизации спектра.
  • - Выполнение одномерного и многомерного анализов.
  • - Проведение рутинных анализов.
  • - Трехмерная визуализация данных спектрального анализа.
  • - Идентификация вещества библиотечным поиском, возможность построения собственных спектральных библиотек.
  • - Функция коррекции интенсивности спектра.
  • - Функция автоматического удаления флуоресценции на лазере с длинной волны 785 нм.
  • - Библиотека КР спектров.

Области применения

Типовые приложения рамановской спектроскопии в области материаловедения и нанотехнологий:

  • - в материаловедении – для исследования любых типов неорганических и органических материалов, включая полупроводниковые элементы;
  • - в геммологии, минералогии – для изучения драгоценных камней, минералов;
  • - в органической химии – для изучения механизмов реакций и характеризации продуктов синтеза;
  • - при разработке и контроле различных производственных процессов;
  • - в криминалистике рамановская спектроскопия может применяться для идентификации: 
  •              - красок, чернил (авария автомобилей, идентификация рисунка),
  •              - полимерных пленок, различных волокон, твердых включений, стекол,
  •              - взрывчатых, наркотических, отравляющих веществ,
  •              - состава взрывчатых смесей, порохов;
  • - в фармацевтике – при разработке и контроле производства таблетированных форм лекарств и кремов;
  • - для определения дефектов решетки;
  • - при изучении процессов коррозии.