Категория: Оптическая микроскопия
Просмотров: 5106

Блок реализации метода сверхразрешения Leica STED-CW.

Прибор может быть использован для:

В будущем возможно дооснащение до gated-STED-CW, что позволит повысить разрешение до 50 нм.

Размещение: Василеостровская площадка.

Статус: оборудование доступно.

 

leica-sted-cw.png

Основные технические характеристики

Возбуждение:

Разрешение XY – до 80 нм (73 нм – достигнутое на данном приборе), при использовании гейтирования – до 50 нм, 
Z-разрешение – конфокальное.
Скорость сканирования – до 18 кадров/с при растре 512х512 и латеральном разрешении 80 нм.

Требования к образцам

Использование совместимых флуорохромов, соблюдение равенства коэффициентов преломления среды для заключения и иммерсионной среды, использование стандартных покровных стёкол толщиной 170 мкм.