Спектрометр EDX-800P предназначен для быстрого неразрушающего определения качественного и количественного элементного состава (от C6 до U92) твёрдых и жидких образцов, порошков, гранул, пластин, плёнок. Большая камера позволяет проводить измерения образцов диаметром до 300 мм и высотой до 150 мм. Анализ может проводиться на воздухе, в вакууме или среде гелия (для определения лёгких элементов в жидкостях). Пять типов первичных фильтров дают возможность снизить влияние фона и значительно улучшить пределы обнаружения элементов в образцах различной природы.

Благодаря программному обеспечению спектрометра возможно определять толщину и элементный состав тонких плёнок и покрытий, а использование метода фоновых фундаментальных параметров позволяет анализировать плёнки органической природы. Кроме того, существует возможность коррекции на интенсивность, энергию, полуширину пика. Программа сопоставления состава (интенсивность / содержание) использует библиотеки данных и исключает необходимость наличия стандартных образцов для количественного анализа.

Определение элементного состава проводится методом энергодисперсионного рентгенофлуоресцентного анализа. Суть метода заключается в облучении исследуемого образца рентгеновским излучением с последующей расшифровкой спектра флуоресцентного излучения, испускаемого возбуждёнными атомами образца.

 

Спецификация прибора EDX-800P

Диапазон элементов

  • C6 – U92

Рентгеновский генератор

  • трубка с анодом Rh, воздушное охлаждение, напряжение 5-50 кВ, ток 1-1000 мкА

Облучаемая площадь

  • диаметр 10 мм

Коллиматоры (опция)

  • автоматический выбор 4 типов: 1, 3, 5 и 10 мм либо 1, 3 и 10 мм

Детекторы

  • EDX-800P: Si(Li), жидкий азот необходим только на время измерений, расход 1 л/день

Кюветное отделение

  • анализ на воздухе, в вакууме или среде гелия (опция);
  • 16-позиционный автосамплер;
  • устройство для вращения образца

 

Возможности программного обеспечения:

Качественный анализ

  • автоматический и ручной режим расшифровки пиков

Количественный анализ

  • метод калибровочных кривых;
  • матричная коррекция;
  • метод фундаментальных параметров (ФП);
  • метод фоновых ФП;
  • анализ тонких плёнок методом ФП
 

Методика построения калибровочных кривых

Строится кривая, отображающая зависимость между содержанием элемента в стандартном образце и его измеренной интенсивностью (калибровочная кривая), затем находится содержание элемента в неизвестном образце.

Методика фундаментальных параметров

Используя теоретически рассчитанные интенсивности флуоресцентного излучения, определяются содержания в образце по фактически измеренным интенсивностям.

Этот метод может быть применён

  • • без использования стандартного образца,
  • • с использованием стандартного образца.