Спектрометр EDX-800P предназначен для быстрого неразрушающего определения качественного и количественного элементного состава (от C6 до U92) твёрдых и жидких образцов, порошков, гранул, пластин, плёнок. Большая камера позволяет проводить измерения образцов диаметром до 300 мми  высотой до 150 мм. Анализ может проводиться на воздухе, в вакууме или среде гелия (для определения лёгких элементов в жидкостях). Пять типов первичных фильтров дают возможность снизить влияние фона и значительно улучшить пределы обнаружения элементов в образцах различной природы.

 

Благодаря программному обеспечению спектрометра возможно определять толщину и элементный состав тонких плёнок и покрытий., а использование метода фоновых фундаментальных параметров позволяет анализировать плёнки органической природы. Кроме того, существует возможность коррекции на интенсивность, энергию, полуширину пика. Программа сопоставления состава (интенсивность/содержание) использует библиотеки данных и исключает необходимость наличия стандартных образцов для количественного анализа.

Определение элементного состава проводится методом энергодисперсионного рентгенофлуоресцентного анализа. Суть метода заключается в облучении исследуемого образца рентгеновским излучением с последующей расшифровкой спектра флуоресцентного излучения, испускаемого возбуждёнными атомами образца.

Спецификация прибора EDX-800P

Диапазон элементов:

C6 – U92

Рентгеновский генератор:

трубка с анодом Rh, воздушное охлаждение, напряжение 5 - 50 кВ, ток 1 - 1000 мкА

Облучаемая площадь:

диаметр 10 мм

Коллиматоры (опция):

автоматический выбор 4 типов: 1, 3, 5 и 10 ммлибо 1, 3 и 10 мм

Детекторы:

EDX-800P: Si(Li), жидкий азот необходим только на время измерений, расход 1 л/день

Кюветное отделение:

анализ на воздухе, в вакууме или среде гелия (опция)

16-позиционный автосамплер

устройство для вращения образца

Возможности программного обеспечения:

Качественный анализ:

автоматический и ручной режим расшифровки пиков

Количественный анализ:

метод калибровочных кривых

матричная коррекция

метод фундаментальных параметров (ФП)

метод фоновых ФП

анализ тонких плёнок методом ФП

 

Методика построения калибровочных кривых

Строится кривая, отображающая зависимость между содержанием элемента в стандартном образце и его измеренной интенсивностью (калибровочная кривая), затем находится содержание элемента в неизвестном образце.

Методика фундаментальных параметров

Используя теоретически рассчитанные интенсивности флуоресцентного излучения, определяются содержания в образце по фактически измеренным интенсивностям.

Этот метод может быть применён

      • Без использования стандартного образца

      • С использованием стандартного образца